[发明专利]多通道电阻抗断层成像电路及系统在审
申请号: | 201810476960.3 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN108577838A | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 石崇源;吴冠;宣和均 | 申请(专利权)人: | 杭州永川科技有限公司 |
主分类号: | A61B5/053 | 分类号: | A61B5/053 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 魏彦 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试电极 电阻抗断层成像 激励电流信号 中央处理器 多通道 后端处理模块 激励电压信号 恒定 电路 保障模块 测量模块 电流激励 电流信号 成像 医疗器械技术 结果信号 探测信号 多路 转化 放大 | ||
1.一种多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,包括:中央处理器、电流激励模块、激励保障模块、测量模块和后端处理模块,其中,所述后端处理模块的个数为多个;
所述中央处理器、所述激励保障模块、所述电流激励模块、所述测量模块和每个所述后端处理模块依次相连,且,每个所述后端处理模块均和所述中央处理器相连,其中,所述测量模块包括多个测试电极,多个所述测试电极均匀排布在一个平面内,且,每个所述测试电极均与一个所述后端处理模块相连;
所述电流激励模块,用于在接收到所述中央处理器发出的探测信号后,向所述测量模块中的任意两个所述测试电极发出电流信号,直到所有的所述测试电极都接收到所述电流信号为止;
所述激励保障模块,用于将所述电流信号调整到恒定值,根据所述恒定值生成激励电流信号;
其余所述测试电极,用于在所述激励电流信号的作用下产生多路激励电压信号;
每个所述后端处理模块,用于对与之相连的所述测试电极产生的所述激励电压信号进行放大和转化后生成转化结果信号,以传送给所述中央处理器进行成像。
2.根据权利要求1所述的多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,每个所述后端处理模块中均包括依次相连的检测选择开关、前置放大器、带通滤波器、对数放大器和A/D数字转换器;
所述检测选择开关,用于连通与所述测试电极相连的所述前置放大器;
所述前置放大器,用于对所述激励电压信号进行线性放大,得到第一放大电压信号;
所述带通滤波器,用于对所述第一放大电压信号进行滤波,得到带通电压信号;
所述对数放大器,用于对所述带通电压信号进行对数放大,得到第二放大电压信号;
所述A/D数字转换器,用于对所述第二放大电压信号进行模数转化,得到数字电压信号。
3.根据权利要求2所述的多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,多个所述检测选择开关均与所述中央处理器相连;
多个所述检测选择开关,均用于在接收到所述中央处理器的回传信号后连通其余所述测试电极和所述前置放大器之间的连接。
4.根据权利要求2所述的多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,每个所述后端处理模块中还包括第一校准电阻;
所述第一校准电阻的一端与相邻的所述后端处理模块中的所述第一校准电阻相连,直到所有所述后端处理模块中的所述第一校准电阻依次连接成环形,所述第一校准电阻的另一端与所述检测选择开关相连;
所述第一校准电阻,用于在所述中央处理器向所述检测选择开关发出第一校准信号的激励下产生第一电压;
所述中央处理器,用于将测得的所述第一电压与第一标准电压之间的差值记作第一测量误差信号。
5.根据权利要求4所述的多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,每个所述后端处理模块中还包括第二校准电阻,其中,所述第二校准电阻与所述第一校准电阻的阻值不同;
所述第二校准电阻的一端与相邻的所述后端处理模块中的所述第二校准电阻相连,直到所有所述后端处理模块中的所述第二校准电阻依次连接成环形,所述第二校准电阻的另一端与所述检测选择开关相连;
所述第二校准电阻,用于在所述中央处理器向所述检测选择开关发出第二校准信号的激励下产生第二电压;
所述中央处理器,用于将测得的所述第二电压与第二标准电压之间的差值记作第二测量误差信号。
6.根据权利要求1所述的多通道电阻抗断层成像电路,其特征在于,所述电流激励模块包括依次相连的电流源发生器、激励放大器和激励选择开关,且,所述激励选择开关与所述中央处理器相连;
所述电流源发生器,用于在接收到所述中央处理器发出的探测信号后生成激励电流;
所述激励放大器,用于对所述激励电流进行放大,得到所述激励电流信号;
所述激励选择开关,用于在所述中央处理器的控制下连通任意两个所述测试电极与所述激励放大器之间的连接。
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