[发明专利]半导体器件和控制半导体器件的方法

说明书

本发明涉及半导体器件和控制半导体器件的方法。在抑制电路尺寸增大同时，防止由电流急剧波动而引起的故障。一种半导体器件包括多个模块。该半导体器件包括：表格，其存储每个模块中的多个操作频率和基于操作频率确定的多个分数，使得每个模块的操作频率和分数彼此关联；分数指定单元，其获取模块的时钟操作频率，并参照表格，基于时钟操作频率来指定分数；和输出单元，如果指定的分数超过预定阈值，则其输出在不同的时间激活模块的指令。

相关申请的交叉参考

2017年5月22日提交的日本专利申请No.2017-100756的公开——包括说明书、附图和摘要，通过引用的方式将其全部并入本文。

技术领域

本发明涉及一种半导体器件和控制半导体器件的方法，并且涉及例如包括多个模块的半导体器件和控制半导体器件的方法。

背景技术

众所周知，当电源开关在内部电路中接通时，同时会产生电流，从而导致半导体IC故障。日本未经审查的专利申请公开No.2008-218722公开一种在半导体IC中的冲击电流监测电路的技术。

发明内容

在该技术中，为了防止微控制单元(MCU)中Vdd的瞬间下降或上升，可以为电源单元的容量提供裕度(margin)或者可以增加MCU内部容量。然而，所有这些措施都导致了芯片规模的扩大。在日本未经审查的专利申请公开No.2008-218722中，不能解决这些问题。

通过对本发明书和附图的描述，其他问题和新的特征将变得清楚。

根据实施例，一种半导体器件包括：表格，其存储多个模块中的多个操作频率和基于操作频率确定的多个分数，使得每个模块的操作频率和分数彼此关联；分数指定单元，其获取模块的时钟操作频率，并且参照表格，基于时钟操作频率来指定分数；和输出单元，如果指定的分数超过预定阈值，则其输出在不同的时间激活模块的指令。

根据本实施例，可以在抑制电路尺寸增大的同时，防止由电流剧烈波动而引起的故障。

附图说明

图1是示出根据第一实施例的MCU的配置的方框图；

图2是示出根据第一实施例的操作电流指示电路的配置的方框图；

图3是示出根据第一实施例的电流消耗表格的实例；

图4是示出根据第一实施例的延迟调整单元的配置的方框图；

图5是示出根据第一实施例的模块停止控制的时序图；

图6是示出根据第一实施例的模块停止控制的时序图；

图7是示出根据相关技术的MCU的配置实例的方框图；

图8是示出具有根据相关技术的模块停止功能的MCU的配置的方框图；和

图9是对根据相关技术的模块停止控制的问题的说明图。

具体实施方式

下面将参考附图具体描述根据解决问题的方法的具体实施例。在附图中，相同的元件用相同的符号表示，并且为了使描述清楚将可选择地省略其重复说明。

为了便于说明，实施例将被可选择地描述为多个部分或实施例。各个部分或实施例是彼此相关的，除非另有规定。例如，一个部分或实施例是对另一个部分或实施例的部分或全部的修改、应用、详细说明和补充说明。在下面的实施例中，元件的数字(包括数字、数值、数量和范围)不限于特定数字，除非另有规定或理论上明确限制于特定数字。因此，元件的数字可以大于或小于特定数字。