[发明专利]烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种烤箱温控方法，包括：检测烤箱内部当前温度；计算所述当前温度与预设温度的偏差；根据所述偏差，以及预设的烤箱继电器通断时间比与偏差的映射关系，计算所述继电器的通断时间比；根据所述通断时间比控制所述继电器的工作状态。本发明还公开了一种烤箱温控装置及计算机可读存储介质。本发明提高了烤箱温控的精准性。

技术领域

本发明涉及烤箱技术领域，尤其涉及一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着生活水平的提高，烤箱已经被广泛应用，给人们的日常生活带来极大便利。目前，在采用烤箱加热食物时，一般是通过将测量温度与用户设定温度进行对比，若测量温度低于设定温度则进行加热，若测量温度高于设定温度则停止加热。由于利用发热管对烤箱工作区域进行加热会有一定的温度变化延迟效应，因此实际控制得到的烤箱温度会出现较大的波动，容易出现温度过高或过低的情况，也即烤箱温控的精准性不高。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中烤箱温控的精准性不高的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种烤箱温控方法，所述烤箱温控方法包括以下步骤：

检测烤箱内部当前温度；

计算所述当前温度与预设温度的偏差；

根据所述偏差，以及预设的烤箱继电器通断时间比与偏差的映射关系，计算所述继电器的通断时间比；

根据所述通断时间比控制所述继电器的工作状态。

优选地，所述根据所述当前温度以及预设温度，计算烤箱温度的偏差的步骤之后，还包括：

当所述偏差为负值时，向所述继电器输出通电信号，控制所述继电器一直处于通电状态。

优选地，所述检测烤箱内部当前温度的步骤包括：

根据预设的检测周期，周期性检测烤箱内部当前温度。

优选地，所述根据所述偏差，以及预设的烤箱继电器通断时间比与偏差的映射关系，计算所述继电器的通断时间比的步骤包括：

根据计算的当前周期内的偏差，以及预设的烤箱继电器通断时间比与偏差的映射关系，计算所述继电器在下个周期内的通断时间比。

优选地，所述烤箱温控方法还包括步骤：

若当前周期为首个周期，则确定所述继电器在当前周期内的通断时间比为预设通断时间比。

优选地，所述根据计算的当前周期内的偏差，以及预设的烤箱继电器通断时间比与偏差的映射关系，计算所述继电器在下个周期内的通断时间比的步骤包括：

若当前周期内的偏差为负值，则确定所述继电器在下个周期内的通断时间比为1；

若当前周期内的偏差为正值且小于预设偏差，则确定所述继电器在下个周期内的通断时间比等于当前周期内的通断时间比；

若当前周期内的偏差大于或等于所述预设偏差，则根据当前周期内的偏差计算所述继电器在下个周期内的通断时间比。

优选地，所述若当前周期内的偏差大于或等于所述预设偏差，则根据当前周期内的偏差计算所述继电器在下个周期内的通断时间比的步骤包括：

若当前周期内的偏差大于或等于所述预设偏差，则采用预设计算公式u(k+1)＝u(k)+k_p*E(k)-k_i*E(k-1)+k_d*E(k-2)，计算所述继电器在下个周期内的通断时间比；