[发明专利]像素检测与校正电路、像素电路，以及像素检测与校正方法

说明书

本发明提供一种像素检测与校正电路，包含比较器、开关单元及第一输入单元。比较器具有第一输入节点、第二输入节点及输出节点，第一输入节点接收像素电压。开关单元与输出节点电性连接。第一输入单元与第二输入节点电性连接。其中，当像素电压小于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出像素电压；当像素电压大于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出相异于像素电压的修正电压。

技术领域

本发明关于一种像素检测与校正电路、包含其的像素电路，以及像素检测与校正方法；具体而言，特别是一种用于X光射线面板的像素检测与校正电路、包含其的像素电路，以及像素检测与校正方法。

背景技术

在现今的技术中，X光线设备(例如医疗设备或探测设备等)可使用X光感测面板来感测X光。然而，当像素电路发生短路或其他异常时，从影像上会显示饱和的亮点，除了影响影像的判读之外，亦可能造成测量上的误判。

一般而言，目前工厂大多采用雷射修复(Laser repair)的方式进行修复。举例来说，将X光感测面板送至雷射修复系统中，藉由激光将异常的像素破坏。此时，影像上所呈现的亮点则变为暗点，接着再通过影像软体将此暗点进行影像处理后即可出货。

然而，雷射修复的方式可能会在基板表面形成破洞，产品可靠度无法提升。此外，此一方式也需要大量的人力成本。

发明内容

有鉴于此，本发明的一实施例在于提供一种像素检测与校正电路，包含比较器、开关单元及第一输入单元。比较器具有输入节点及输出节点，其输入节点接收像素电压。开关单元与输出节点电性连接。第一输入单元与开关单元相反于比较器的一端电性连接。

于本实施例中，当像素电压小于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出像素电压。另一方面，当像素电压大于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出相异于像素电压的修正电压。

本发明的另一实施例在于提供一种像素电路，包含像素单元及像素检测与校正电路。像素单元用以输出前述实施例的像素电压。其中，输入节点与像素单元电连接以接收像素电压。

本发明的另一实施例在于提供一种像素检测及校正方法，适用于前述像素检测与校正电路，包含下列步骤：(S1)比较该像素电压与该预设电压；(S2)当该像素电压小于该预设电压时，输出该像素电压；以及(S3)当该像素电压大于该预设电压时，输出该修正电压。

相较于现有技术，本发明所提的架构及方法能检测像素电路是否异常，并根据其检测结果进行电压修正，无须破坏面板即可修正异常电路所导致的像素异常，除减少误判之外亦能节省人力成本。

附图说明

图1A及图1B为本发明像素检测与校正电路的一实施例示意图。

图1C为本发明像素检测与校正电路的一时序图。

图2为本发明像素检测与校正电路的另一实施例示意图。

图3为本发明像素检测与校正电路的另一实施例示意图。

图4为本发明像素检测与校正电路的另一实施例示意图。

图5为本发明像素检测与校正电路的另一实施例示意图。

图6为本发明像素检测及校正方法的实施例流程图。

其中，附图标记：

1像素检测及校正电路 11比较器

12开关单元 13第一输入单元

14第二输入单元 15取样电路

2像素检测及校正电路 21比较器

22开关单元 23第一输入单元