[发明专利]仪器的校准

说明书

本申请涉及仪器的校准。公开了一种装置，可以使用第一光源的光确定用于光谱仪的校准值；在确定校准值之后，停用第一光源；基于校准值进行关于样品的测量，其中使用第二光源的光进行样品的测量；确定要更新校准值；并且使用来自第一光源的光更新校准值。

背景技术

光谱仪可以进行透射光谱检查。在透射光谱检查中，光穿过样品并与未穿过样品的光比较。该比较可以提供基于路径长度或样品厚度、样品的吸收系数、样品的反射率、入射角、入射辐射的偏振以及对于颗粒物质的粒度尺寸和取向的信息。

发明内容

根据一些可行的实施例，由装置进行的方法可以包括：使用来自第一光源的光确定用于光谱仪的校准值；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用所述第一光源之后执行样品的测量，其中所述样品的测量使用来自第二光源的光进行；确定要更新所述校准值；基于确定要更新所述校准值而激活所述第一光源；并且在激活第一光源之后，使用来自第一光源的光更新所述校准值。

根据一些可行的实施例，装置可以包括：存储器；和连接到所述存储器的一个或多个处理器，所述存储器和所述一个或多个处理器配置成：使用从光谱仪的第一光源反射到光谱仪的传感器的光确定用于光谱仪的校准值，并且其中所述光从所述光谱仪的扩散器反射到所述传感器；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用第一光源之后进行样品的测量，其中使用经由所述扩散器接收到的来自第二光源的光进行所述样品的测量；确定要更新的所述校准值；基于确定要更新所述校准值而激活所述第一光源；并且在激活第一光源之后，使用来自第一光源的光更新所述校准值。

根据一些可行的实施例，非暂态计算机可读介质可以存储一个或多个指令，所述一个或多个指令在由光谱仪的一个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器：使用来自第一光源的光确定用于所述光谱仪的校准值；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用第一光源之后进行关于样品的测量，其中使用来自第二光源的光进行所述样品的测量；确定要更新所述校准值；以及使用来自所述第一光源的光更新所述校准值。

附图说明

图1A-1D是本文所述的示例实施例的概要图；

图2是其中可以实施本文所述的系统和/或方法的示例环境的示意图；

图3是一个或多个图2的装置的示例部件的示意图；

图4是本文所述的透射光谱仪的概要图；和

图5是用于确定基线校准值和基于基线校准值来校准透射光谱仪的示例过程的流程图。

具体实施方式

关于示例实施例的以下详细说明参考了附图。相同的附图标记在不同附图中可以标识相同元件或类似元件。以下描述使用光谱仪作为示例，但本文所述的校准原理、步骤和方法可与任何传感器一起使用，包括但不局限于其它的光学传感器和光谱传感器。

一些光谱测量应用可以进行重复的基线测量或校准测量，以补偿对光谱仪传感器或硬件的热影响和物理影响。减少这些基线测量或校准测量之间的持续时间使得减少噪音并提高可重复性。但是，许多过程将不容许比测量周期开始时更频繁地重复基线测量或校准测量，这可能持续数小时或数天。在主动测量一过程时，对于透射测量，校准过程可能具有挑战性。例如，可能停止过程，并使用从样品位置处排出的过程材料对过程进行重新基线测定。从实用性的角度看，这对最终用户来说可能是具有挑战性和令人沮丧的。