[发明专利]基于二阶锥规划的宽带发射数字波束形成干扰设计方法有效

专利信息
申请号: 201810379630.2 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108828536B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 汤建龙;张鸿伟;斯海飞;安坤 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/38 分类号: G01S7/38
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 二阶锥 规划 宽带 发射 数字 波束 形成 干扰 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种基于二阶锥规划的宽带发射数字波束形成干扰设计方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,确定均匀线阵和宽带数字信号,所述均匀线阵包括M个阵元,每个阵元分别对应一个阵元通道,对所述宽带数字信号进行分路,得到M路宽带数字信号;

然后基于二阶锥规划的算法计算得到每个阵元通道对应的FIR滤波器冲激响应,记为M个FIR滤波器冲激响应;M为大于1的正整数;M路宽带数字信号与M个FIR滤波器冲激响应一一对应;

所述M个FIR滤波器冲激响应,其得到过程为:

1.1确定宽带数字信号,所述宽带数字信号为均匀线阵发射的数字信号中数字信号带宽与经过上变频处理后的数字信号中心频率之间的比值在7%-15%之间的数字信号;

所述宽带数字信号发射到空中的表现形式为波束,将波束主瓣指向与M个阵元连线之间的夹角,记为期望形成波束主瓣指向φd

1.2令h表示M个FIR滤波器冲激响应,得到基于线性约束最小功率准则准则的波束形成优化问题为:

其中,subject to表示约束条件,C为约束矩阵,f为约束值矢量,CT=Ad,f=bd,令ωi表示第i个频率栅格点的角频率,i=1,2,…,Nf,Nf表示将宽带数字信号的角频率范围离散化后的频率栅格点总个数,L表示每个阵元通道对应的FIR滤波器冲激响应包括的FIR滤波器系数总个数,L≥1;Re表示取实部操作,Im表示取虚部操作;I表示M×M维单位矩阵,Rxx表示ML×ML维矩阵,φd表示第d个期望形成零点方向,在均匀线阵中,φq表示第q个期望形成零点方向,q=1,…,Q,Q表示期望形成零点方向总个数,Q≥1,m=1,...,M,c表示光速,表示阵元间距,ωl表示宽带数字信号的角频率最小值,ωu表示宽带数字信号的角频率最大值,e(e)=[1,e-jω,e-j2ω,…,e-j(L-1)ω]T,Sxx(ω)=E{x(e)xH(e)},上标T表示转置,x(e)=[X1(e),...,Xm(e),...,XM(e)]T,ω表示角频率变量,ω∈[ωlu],E表示求期望,n-k=0,1,2,…,Γ-1,s[n]表示将宽带数字信号分路为M路后每路宽带数字信号中的第n个元素值,s[n-k]表示对s[n]延迟长度k后的元素值,n=0,1,…,Γ-1,Γ表示将宽带数字信号分路为M路后每路宽带数字信号包括的元素值总个数,k=0,1,…,L-1,m=1,...,M,c表示光速,表示阵元间距,上标H表示共轭转置,e(e)=[1,e-jω,e-j2ω,…,e-j(L-1)ω]T,上标*表示共轭,表示张量积;

1.3引入辅助变量η,其中η为未知变量;然后根据所述基于线性约束最小功率准则准则的波束形成优化问题和二阶锥规划的算法得到二阶锥形式问题:

其中,subject to表示约束条件,V表示对ML×ML维矩阵Rxx进行Cholesky分解后的上三角矩阵,SLR表示波束旁瓣区域,ξ=1,2,…,Nφs,φξ表示第ξ个方位角栅格方向,表示波束旁瓣区域内包括的方位角栅格总个数,∈表示属于,||·||表示欧几里得范数;表示Nf×ML维矩阵,令表示第ξ个方位角栅格、第i个频率栅格点对应的导向矢量,φξ表示第ξ个方位角栅格方向,表示波束旁瓣区域内包括的方位角栅格总个数;

求解上述二阶锥形式问题,得到M个FIR滤波器冲激响应h,M个FIR滤波器冲激响应h是ML×1维向量,h=[h1,...,hm,...,hM]T,hm表示第m个阵元通道对应的FIR滤波器冲激响应,m=1,2,…,M,M表示均匀线阵包括的阵元总个数;

步骤2,将每路宽带数字信号分别经过对应的FIR滤波器冲激响应进行FIR滤波后,得到M路经过FIR滤波后的宽带数字信号;

步骤3,对每路经过FIR滤波后的宽带数字信号分别进行数/模转换、上变频处理、射频滤波处理和放大处理后,得到M路经过幅相处理后的宽带信号;M路经过幅相处理后的宽带信号与M个阵元一一对应;

步骤4,将每路经过幅相处理后的宽带信号分别通过对应阵元发射到空中,然后利用波束形成技术得到宽带干扰波束,所述宽带干扰波束为基于二阶锥规划的宽带发射数字波束形成干扰设计结果。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810379630.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top