[发明专利]一种新型岩石节理双阶粗糙度定量分析方法在审

专利信息
申请号: 201810375881.3 申请日: 2018-04-16
公开(公告)号: CN108647408A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 李迎春;孙盛玥;李根;唐春安 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 温福雪;侯明远
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 小凸起 岩石节理 线性趋势 定量分析 剪切 粗糙度 夹角为 波长 二阶 双阶 方向波长 剪切抗力 剪切性能 岩土工程 波状 基线 一阶 坡度 粗糙
【说明书】:

发明属于岩土工程技术领域,涉及一种新型岩石节理双阶粗糙度定量分析方法。关键大起伏是所有岩石节理起伏体中振幅高度Aw最高的波状大起伏,为一阶起伏体,决定着剪切性能,是沿着剪切方向、水平长度为半关键大起伏初始波长λw/2时坡度最陡的大起伏,关键大起伏的线性趋势线与水平方向的初始夹角为初始倾角i0;位于关键大起伏上,面向剪切方向波长最长的粗糙小凸起则称关键小凸起,其在沿关键大起伏方向上的长度为半关键小凸起初始波长λu/2,关键小凸起的线性趋势线与关键大起伏的线性趋势线的初始夹角为初始倾角α0,定义为二阶起伏体,选择基线长度最长的小凸起来代表岩石节理的关键小凸起,在所有二阶起伏体中,关键小凸起主要提供剪切抗力产生剪胀。

技术领域

本发明属于岩土工程技术领域,涉及一种新型岩石节理双阶粗糙度定量分析方法。

背景技术

天然岩石节理面起伏不平,包含描述节理起伏趋势的尺寸相对较大的起伏体(Waviness)和描述节理粗糙程度的尺寸相对较小的起伏体(Unevenness)。部分研究称尺寸较大的起伏体为起伏度,尺寸较小的起伏体为粗糙度;起伏度的尺寸比粗糙度的尺寸大一个数量级。有些学者则分别把尺寸较大和较小的起伏体称作一阶起伏体(First-orderasperity)和高阶起伏体(Higher-order asperity)。由于高阶起伏体的尺寸较小,通常可只考虑到二阶起伏体(Second-order asperity)。

传统的起伏度概念,即为典型的实验室尺寸倾角为i0的一阶大起伏,其波长λw量级为几十毫米;粗糙度概念即为实验室尺寸倾角为α0的二阶小凸起,其波长范围λu为几毫米。

2015年,李迎春等人在《A constitutive model for a laboratory rock jointwith multi-scale asperity degradation》一文中,称一阶起伏体为大起伏、二阶起伏体为小凸起,提出了一阶大起伏和二阶小凸起中对剪切行为起控制作用的关键大起伏(Critical waviness)和关键小凸起(Critical unevenness)这两个概念。但对此双阶粗糙结构剪胀和劣化过程的描述仍处于半经验阶段,对双阶粗糙结构的节理剪切行为进行系统性、定量、理论模型化的研究尚处于初级阶段。

发明内容

本发明目的在于提供一种新型岩石节理双阶粗糙度定量分析的方法。将粗糙结构划分为一阶起伏体,称为大起伏;二阶起伏体,称为小凸起。且自双阶粗糙结构对节理剪切行为的影响方面分析,在大起伏、小凸起的基础上,得出控制其剪切性能的关键大起伏及关键小凸起的概念。明了直观地定量分析了岩石节理双阶粗糙度,对岩体工程的评价给予了理论基础。

本发明的技术方案:

一种新型岩石节理双阶粗糙度定量分析的方法,步骤如下:

一阶起伏体为大起伏;二阶起伏体为小凸起;

在剪切过程中,大起伏通常由于尺寸较大难以被剪坏,造成剪胀;而小凸起则由于尺寸较小趋于破坏;

关键大起伏是所有岩石节理起伏体中振幅高度Aw最高的波状大起伏,为一阶起伏体,决定着剪切性能,是沿着剪切方向、水平长度为半关键大起伏初始波长λw/2时坡度最陡的大起伏,关键大起伏的线性趋势线与水平方向的初始夹角为初始倾角i0;位于关键大起伏上,面向剪切方向波长最长的粗糙小凸起则称关键小凸起,其在沿关键大起伏方向上的长度为半关键小凸起初始波长λu/2,关键小凸起的线性趋势线与关键大起伏的线性趋势线的初始夹角为初始倾角α0,定义为二阶起伏体,选择基线长度最长的小凸起来代表岩石节理的关键小凸起,在所有二阶起伏体中,关键小凸起主要提供剪切抗力产生剪胀。

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