[发明专利]波长监测装置、光源装置以及光模块有效

专利信息
申请号: 201810372011.0 申请日: 2018-04-24
公开(公告)号: CN108801466B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 东大德;柴田康平 申请(专利权)人: 富士通光器件株式会社
主分类号: G01J4/04 分类号: G01J4/04;G01J9/00;H01S5/00;H01S5/022;H01S5/024;H01S5/0687
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;杨薇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 波长 监测 装置 光源 以及 模块
【权利要求书】:

1.一种波长监测装置,该波长监测装置包括:

法拉第旋转器,该法拉第旋转器使输入光的偏振方向旋转;

标准具元件,该标准具元件包括第一双折射层和单折射层;

偏振分离元件,该偏振分离元件将由所述法拉第旋转器旋转了偏振方向并透射过所述标准具元件的所述输入光分成第一光和第二光,所述第一光具有与所述第一双折射层的光学轴平行的偏振方向,所述第二光具有与所述第一双折射层的所述光学轴垂直的偏振方向;

第一光接收装置,该第一光接收装置接收所述第一光而检测用于监测所述输入光的波长的第一监测值;以及

第二光接收装置,该第二光接收装置接收所述第二光而检测用于监测所述输入光的波长的第二监测值,

其中,

所述标准具元件具有第一透射特性和第二透射特性,该第一透射特性关联于与所述第一双折射层的光学轴平行的方向,并且在第一透射特性中,所述第一监测值相对于所述输入光的波长周期性地变化,第二透射特性关联于与所述第一双折射层的光学轴垂直的方向,并且在第二透射特性中,所述第二监测值相对于所述输入光的波长周期性地变化,

所述第一双折射层的厚度被设定为所述标准具元件中的所述第一透射特性与所述第二透射特性之间的相位差为π/2+2kπ的情况下的多种厚度当中的、与等于或小于预定值的k关联的厚度,其中,k为整数,并且

所述第一双折射层的厚度和所述单折射层的厚度之和被设定为使得与所述和成反比的所述第一透射特性的周期和所述第二透射特性的周期变得等于或小于目标周期。

2.根据权利要求1所述的波长监测装置,所述波长监测装置还包括另一光接收装置,该另一光接收装置接收尚未透射过所述标准具元件的所述输入光而检测所述输入光的光功率值,其中,

通过用所述输入光的所述光功率值对所述第一监测值进行归一化来获得所述标准具元件中的所述第一透射特性,并且

通过用所述输入光的所述光功率值对所述第二监测值进行归一化来获得所述标准具元件中的所述第二透射特性。

3.一种光源装置,该光源装置包括:

激光器,该激光器能够改变输出光的波长;

根据权利要求1所述的波长监测装置,该波长监测装置监测从所述激光器输出的激光束的波长;以及

控制单元,该控制单元基于由所述波长监测装置获得的监测结果来执行波长控制,在该波长控制中,将所述激光束的波长调节为预定目标波长。

4.一种光模块,该光模块包括根据权利要求3所述的光源装置。

5.一种波长监测装置,该波长监测装置包括:

偏振切换元件,该偏振切换元件切换输入光的偏振方向;

标准具元件,该标准具元件包括第一双折射层和单折射层;以及

光接收装置,该光接收装置接收偏振方向被所述偏振切换元件切换为与所述第一双折射层的光学轴平行的方向并透射过所述标准具元件的所述输入光,检测用于监测所述输入光的波长的第一监测值,并且所述光接收装置接收偏振方向被所述偏振切换元件切换为与所述第一双折射层的光学轴垂直的方向并透射过所述标准具元件的所述输入光,检测用于监测所述输入光的波长的第二监测值,

其中,

所述标准具元件具有第一透射特性和第二透射特性,该第一透射特性关联于与所述第一双折射层的光学轴平行的方向,并且在第一透射特性中,所述第一监测值相对于所述输入光的波长周期性地变化,第二透射特性关联于与所述第一双折射层的光学轴垂直的方向,并且在第二透射特性中,所述第二监测值相对于所述输入光的波长周期性地变化,

所述第一双折射层的厚度被设定为所述标准具元件中所述第一透射特性与所述第二透射特性之间的相位差为π/2+2kπ的情况下的多种厚度当中的、与等于或小于预定值的k关联的厚度,其中,k为整数,并且

所述第一双折射层的厚度和所述单折射层的厚度之和被设定为使得与所述和成反比的所述第一透射特性的周期和所述第二透射特性的周期变得等于或小于目标周期。

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