[发明专利]射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质有效
申请号: | 201810355352.7 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108650033B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 周宏伟;方关林 | 申请(专利权)人: | 摩比天线技术(深圳)有限公司;摩比通讯技术(吉安)有限公司;摩比科技(西安)有限公司;摩比科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 刘健;黄韧敏 |
地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 器件 测试 方法 终端 系统 存储 介质 | ||
本发明提供了一种射频器件的测试方法、测试终端、测试系统和存储介质,所述测试方法包括步骤有:设置步骤,在测试终端上设置射频器件对应的产品参数和测试参数;加载步骤,所述测试终端接收到包含有待测射频器件的所述产品参数的测试指令后,加载所述产品参数对应的所述测试参数;测试步骤,所述测试终端根据所述待测射频器件对应的所述测试参数,控制两个信号源的信号通过合路器合路后注入所述待测射频器件,同时控制频谱仪对所述待测射频器件进行测试并获取测试结果。借此,本发明能够实现对射频器件的自动测试,从而提高测试效率和准确率。
技术领域
本发明涉及通信测试技术领域,尤其涉及一种射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质。
背景技术
在无线通信系统的诸多测试指标中,IP3(Third-order Intercept Point,三阶互调截取点)是一个衡量器件线性度和失真性能的重要指标,包括OIP3(Out Third-orderIntercept Point,输出IP3)和IIP3(In Third-order Intercept Point,输入IP3)。在模拟通信中,交调失真会产生邻道信号串扰,在数字通信中,交调失真会降低系统的频谱利用率,使误码率恶化。容量越大的系统,对IP3的要求越高;IP3越高,表示器件的线性度越好,失真越少,因此,准确测量IP3的大小显得由为重要。
随着无线通信领域业务需求的发展,为适应无线通信行业发展要求和竞争需要,提高客户满意度和市场占有率,为保证产品的质量和可靠性,客户对滤波器产品的交调指标测试要求也越来越高。而满足客户对交调性能指标要求最直接的方法就是测量OIP3来确保滤波器的线性度要求。现有OIP3测试需要人工测试,每次测试前都要先设置仪器,手动操作过程繁琐,且效率低。而且现有OIP3测试数据无法在系统追溯。
综上可知,现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷,所以有必要加以改进。
发明内容
针对上述的缺陷,本发明的目的在于提供一种射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质,其能够实现对射频器件的自动测试,从而提高测试效率和准确率。
为了实现上述目的,本发明提供一种射频器件的测试方法,包括步骤有:
设置步骤,在测试终端上设置射频器件对应的产品参数和测试参数;
加载步骤,所述测试终端接收到包含有待测射频器件的所述产品参数的测试指令后,加载所述产品参数对应的所述测试参数;
测试步骤,所述测试终端根据所述待测射频器件对应的所述测试参数,控制两个信号源的信号通过合路器合路后注入所述待测射频器件,同时控制频谱仪对所述待测射频器件进行测试并获取测试结果。
根据本发明所述的测试方法,所述测试步骤之前还包括:
校准步骤,所述测试终端接收到校准指令后,校准两个所述信号源并保存相应的校准参数;
所述测试步骤还包括:所述测试终端根据所述待测射频器件的所述测试参数和所述校准参数,控制两个所述信号源的信号通过所述合路器合路后注入所述待测射频器件,同时根据所述测试参数控制所述频谱仪对所述待测射频器件进行测试并获取测试结果。
根据本发明所述的测试方法,所述校准步骤还包括:根据所述校准指令设置所述信号源的固定频率,并通过调整所述信号源的电平值,使所述信号源发射的信号在所述频谱仪上显示的指定中心频点信号满足0±0.1Db,校准完成后本地保存所述信号源的电平值作为所述校准参数供测试时使用。
根据本发明所述的测试方法,所述测试步骤之后还包括:结果上传步骤,所述测试终端将所述测试结果发送给服务器。
根据本发明所述的测试方法,所述测试方法还包括:修改步骤,在所述测试终端上修改所述射频器件对应的所述产品参数和所述测试参数。
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