[发明专利]一种3D光学尺寸检测仪及光学尺寸检测系统在审
| 申请号: | 201810313728.8 | 申请日: | 2018-04-09 |
| 公开(公告)号: | CN108489390A | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
| 发明(设计)人: | 陈盈运;李波;林岚云 | 申请(专利权)人: | 辽宁昭融瑞合工业数据有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王晖 |
| 地址: | 110000 辽宁省沈阳市中国(辽宁)自由贸易试验区*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学尺寸检测 尺寸检测装置 安装外壳 位移平台 控制器 测量仪 容纳腔 镭射 立柱 待测物 检测仪 底座 相机 镭射测距仪 尺寸检测 方向移动 工作效率 检测组件 人工成本 相对设置 镜头 安装件 垂直的 测量 节约 配置 | ||
本发明提供了一种3D光学尺寸检测仪及光学尺寸检测系统,涉及尺寸检测技术领域。检测仪包括:底座、立柱、尺寸检测装置、控制器;底座设置有位移平台,位移平台可沿相互垂直的第一方向与第二方向移动,位移平台具有容纳腔,容纳腔用于放置待测物;尺寸检测装置包括安装外壳、设置于安装外壳内的相机以及镜头、n个相对设置于容纳腔侧上方的镭射测量仪以及镭射测距仪,其中n为大于或等于2的偶数;安装外壳设置于立柱,镭射测量仪通过安装件设置于立柱;控制器与尺寸检测装置以及检测组件电均连接,且控制器被配置用于根据镭射测量仪、相机以及镜头的测量结果计算得出待测物的3D尺寸。此检测仪可提高测量精度,节约人工成本,提高工作效率。
技术领域
本发明涉及尺寸检测技术领域,具体而言,涉及一种3D光学尺寸检测仪及光学尺寸检测系统。
背景技术
在生产过程中对产品的尺寸进行全面检测,是管控产品质量的一道主要工序,现有技术提供了一种光学表面尺寸检测仪,此光学表面检测仪存在检测精度低、工作效率低等问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种3D光学尺寸检测仪,此3D光学尺寸检测仪可有效地提高测量精度,节约人工成本,提高工作效率。
本发明的另一目的在于提供一种光学尺寸检测系统,此光学尺寸检测系统包括上述的3D光学尺寸检测仪。此光学尺寸检测系统可有效地提高测量精度,节约人工成本,提高工作效率。
本发明是这样实现的:
一种3D光学尺寸检测仪,包括:
底座,底座设置有位移平台,位移平台可沿相互垂直的第一方向与第二方向移动,位移平台具有容纳腔,容纳腔用于放置待测物;
立柱,与底座垂直设置,且与底座活动连接;
尺寸检测装置,包括安装外壳、从上至下依次设置于安装外壳内的相机以及与相机电连接的镜头、n个相对设置于容纳腔侧上方的镭射测量仪以及镭射测距仪,其中n为大于或等于2的偶数;安装外壳设置于立柱,并与立柱滑动连接,镭射测量仪通过安装件设置于立柱;
控制器,与尺寸检测装置以及检测组件电均连接,且控制器被配置用于根据镭射测量仪、相机以及镜头的测量结果计算得出待测物的3D尺寸。
进一步地,在本发明的较佳实施例中,镭射测量仪的个数为两个,且相对设置于容纳腔的左上方与右上方,且通过安装件固定于立柱,安装件垂直于立柱设置。
进一步地,在本发明的较佳实施例中,立柱具有间隔设置的第一工位、第二工位以及第三工位,第二工位与安装外壳位于同一水平线,第三工位与待测物位于同一水平线,第二工位位于第一工位与第三工位之间;
其中,镭射测量仪在进行测量作业时,依次在第一工位、第二工位以及第三工位上进行测量,并输出三次测量结果,控制器被配置为根据三次测量结果计算得到待测物的3D光学尺寸检测仪。
进一步地,在本发明的较佳实施例中,镭射测量仪包括测量壳体以及第一激光镭射测量头、第二激光镭射测量头以及第三激光镭射测量头,第一激光镭射测量头、第二激光镭射测量头以及第三激光镭射测量头集成于测量壳体,测量壳体通过安装件固设于立柱;
其中,第一激光镭射测量头用于发射垂直向激光,第二激光镭射测量头用于发射水平向激光,第三激光镭射测量头用于向待测物方向发射激光。
进一步地,在本发明的较佳实施例中,尺寸检测装置的安装外壳与立柱滑动连接,立柱具有滑动槽,安装外壳具有与滑动槽匹配的滑动辊,滑动辊在滑动槽内滑动,使得尺寸检测装置与底座相对靠近或远离;
安装外壳还具有拧紧螺钉,拧紧螺钉用于使得立柱与尺寸检测装置相对固定。
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