[发明专利]显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本公开是关于一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质，涉及电子技术领域，所述显示面板包括：像素阵列，其包括多个子像素，所述多个子像素之间的间隙处具有通孔；以及，光电检测单元，其包括光电检测阵列，所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。本公开中安装有该显示面板的终端在进行光电检测时，无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔，而是可以直接通过该显示面板中的光电检测阵列来进行光电检测，从而可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

技术领域

本公开涉及电子技术领域，尤其涉及一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，诸如手机、平板电脑等终端的功能越来越强大。为了能够实时感应外界环境光线，以据此调整终端的面板中显示区域的亮度，终端中往往设置有光电检测器，来对外界环境光线进行检测。

目前，如图1所示，终端一般会在面板中除显示区域之外的部分区域上设置开孔，在该开孔的下方配置光电检测器。外界环境光线穿过该开孔射入终端后可以被该光电检测器所检测。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种显示面板，所述显示面板包括：

像素阵列，其包括多个子像素，所述多个子像素之间的间隙处具有通孔；以及，

光电检测单元，其包括光电检测阵列，所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。

可选地，所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影的至少一部分落入所述像素阵列之内。

可选地，所述通孔中设置有透光材料。

可选地，所述多个子像素为所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

可选地，所述光电检测单元被配置以形成用于光电检测器的检测电路的部分。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种光电检测方法，应用于安装有上述第一方面所述的显示面板的终端，所述方法包括：

从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

可选地，所述确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，包括：

确定所述多个目标子像素的像素值；

根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，所述根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征，包括：

使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积，得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种光电检测装置，应用于安装有上述第一方面所述的显示面板的终端，所述装置包括：

第一确定模块，用于从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；