[发明专利]一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法

说明书

一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法，本发明涉及一种CMOS图像传感器老炼方法。本发明的目的是为了解决现有CMOS图像传感器在老炼过程中，器件自身处于工作状态，器件本身也存在发热情况，器件温度可能超过标准要求，对器件会造成一定的损伤的问题。过程为：采用温度传感器对CMOS图像传感器芯片的壳温进行实时测温；发送给数字处理板；环境温度传感器对当前的环境温度进行实时测温，发送给数字处理板；数字处理板对温度值进行数字PID运算，得到温度控制量；控温仪对温度控制量进行控温处理，使CMOS图像传感器芯片的壳温稳定在老炼控制温度±1℃范围内。本发明用于CMOS图像传感器老炼领域。

技术领域

本发明涉及一种CMOS图像传感器老炼方法。

背景技术

对元器件进行可靠性保证，通常采用的手段是采用温度老炼方法，使不合格的器件早期失效，如果元器件通过老炼试验，则证明元器件可满足空间应用要求。目前，对于CMOS(互补金属氧化物半导体)图像传感器的老炼试验有明确的温度要求，通常器件老炼试验在固定的恒温箱内完成。由于CMOS图像传感器在老炼过程中，器件自身处于工作状态，器件本身也存在发热情况，器件温度可能超过标准要求，对器件会造成一定的损伤。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有CMOS图像传感器在老炼过程中，器件自身处于工作状态，器件本身也存在发热情况，器件温度可能超过标准要求，对器件会造成一定的损伤的问题，而提出一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法。

一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法具体过程为：

步骤一、采用器件温度传感器对CMOS图像传感器芯片的壳温进行实时测温；

步骤二、将步骤一测得的温度值发送给数字处理板；

步骤三、环境温度传感器对当前的环境温度进行实时测温，将当前测得的环境温度值发送给数字处理板；

步骤四、数字处理板对步骤一测得的温度值和当前的环境温度值进行数字PID运算，得到温度控制量，将温度控制量发送给控温仪；

步骤五、控温仪对步骤四得到的温度控制量进行控温处理，使CMOS图像传感器芯片的壳温稳定在老炼控制温度±1℃范围内。

本发明的有益效果为：

本发明提出一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法，利用半导体制冷器、低噪声风扇、高精度温度传感器和数字处理板，对CMOS图像传感器芯片进行精确控温，使CMOS图像传感器芯片的壳温稳定在老炼控制温度±1℃范围内，器件温度不会超过标准要求，对器件不会造成损伤，同时具有良好的实时性。

附图说明

图1为本发明基于壳温温度实时反馈方法示意图；

图2为本发明温度控制装置的结构图。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1、图2说明本实施方式，本实施方式的一种基于壳温实时反馈的CMOS图像传感器老炼方法具体过程为：

步骤一、采用器件温度传感器对CMOS图像传感器芯片的壳温进行实时测温；

步骤二、将步骤一测得的温度值发送给数字处理板；

步骤三、环境温度传感器对当前的环境温度进行实时测温，将当前测得的环境温度值发送给数字处理板；

步骤四、数字处理板对步骤一测得的温度值和当前的环境温度值进行数字PID运算，得到温度控制量，将温度控制量发送给控温仪；

步骤五、控温仪对步骤四得到的温度控制量进行控温处理，使CMOS图像传感器芯片的壳温稳定在老炼控制温度±1℃范围内。