[发明专利]一种化学力显微镜技术探针及其制备方法在审
| 申请号： | 201810305816.3 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108398579A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 杨惠;刘芳慧;陈婷;王淑娟;张明辉;胡广新;张威;樊明红;王金本 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/38 | 分类号： | G01Q60/38 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅;王春霞 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 原子力显微镜探针 镀金 单分子吸附 探针 化学力显微镜 特征官能团 基底层 制备 分子间相互作用力 单分子自组装 工业生产要求 表面包覆 定量测量 镀金表面 化学修饰 硫化学键 绿色环保 探针表面 修饰分子 原位测定 功能化 金硫键 力作用 针尖 基底 粘附 修饰 | ||
【权利要求书】：
1.一种化学力显微镜技术探针，其特征在于：该探针包括镀金的原子力显微镜探针和单分子吸附层组成；
所述镀金的原子力显微镜探针为原子力显微镜探针表面包覆镀金基底层；
所述单分子吸附层为修饰分子与所述镀金基底层通过金-硫化学键形成。
2.根据权利要求1所述的探针，其特征在于：所述修饰分子为结构式中一端含有巯基，另一端含有特征官能团的特征分子。
3.根据权利要求1或2所述的探针，其特征在于：所述修饰分子的结构简式为下式Ⅰ所示，
HS-(CH2)n-R式Ⅰ；
式Ⅰ中，R为氨基、羧基、烷基和苯基中的至少一种；
n为1～18的自然数。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的探针，其特征在于：所述镀金基底层的厚度为50～70nm。
5.一种化学力显微镜技术探针的制备方法，包括如下步骤：将镀金的原子力显微镜探针在所述修饰分子的溶液中浸泡，然后取出干燥，即得到化学力显微镜技术探针。
6.根据权利要求5所述的制备方法，其特征在于：所述修饰分子的溶液的溶剂乙醇、甲苯和丙酮中的至少一种。
7.根据权利要求5或6所述的制备方法，其特征在于：所述待修饰分子的溶液的浓度为2～5mM。
8.根据权利要求5-7中任一项所述的制备方法，其特征在于：所述浸泡的时间为18～36h。
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