[发明专利]一种减轻温度影响的SSD管理方法及SSD

说明书

本发明公开了一种减轻温度影响的SSD管理方法及SSD，其特征在于通过不同温度下对FLASH各个块进行读写操作，获得各个块的温敏属性，并记录追踪；在数据写入时记录各个数据块写入时的温度特征值，当数据读取发生错误时，根据读取块的温敏属性，调整系统温度，调整后再进行数据读取，如果还是错误才将出错块记录为坏块。通过写数据时，当系统温度异常时，选择“温敏”属性匹配的块，更好地减少温度的不良影响，从而提高数据可靠性。当读取数据有错误发生，根据块的“温敏”属性和“温度特征值”，结合系统温度进行判断，进而做出不同的处理，减少“坏块”误判的发生。有效地减少在高温、低温、跨温等情况下温度对SSD的可靠性的影响，并减少误判“坏块”的概率。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种减轻温度影响的SSD管理方法及SSD。

背景技术

NAND Flash(闪存)作为SSD(固态硬盘)的主要存储介质，NAND Flash的可靠性直接决定了SSD的可靠性，而NAND Flash的原始比特错误率受温度影响而增加，从而影响NANDFlash的可靠性。

图1是典型的NAND Flash的组成示意图；通道DIE可独立并发操作的单元；一个DIE包括若干Block。块Block可独立擦除的单元，使用前必须要将整个Block擦除，每个Block包括若干Page。Page:读写单元。“坏块”指由于可靠性等原因，永久性不能使用的Block。

现有传统的处理方法都是通过在高低温时降低对NAND Flash的访问速度和频率来减少错误的发生。图2是传统温度管理方法流程图，SSD温度监控模块采集当前温度，判断当前温度是否超过降频阀值，如果没有，则系统正常运行，并继续，SSD温度监控模块采集当前温度；如果超过则降低系统频率，间隔一段时间重新读取温度信息，判断是否回到恢复阀值，如果是则恢复系统频率，如果否则继续间隔一段时间重新读取温度信息，并再次判断。一般地主要的方法有通过降频的方法，来减少SSD系统包括NAND Flash自身工作产生的温度，从而减弱温度的影响；同时可能采用增加内部延时的方法，减少对NAND Flash访问速度，从而减少发生错误的概率。

图3是传统读写操作流程图；当发生读写需求时，先获取系统可用的Block，并进行读写操作，同时判断是否存在错误，如果存在则纪录所在Block为坏块，如果不存在错误，则正常结束本次操作。传统的方法中，读写操作并不关联温度相关的判断条件，更不会关联Block级的温度对抗能力。如果在当在某些温度下block对该温度很敏感，那么写入到这些block的数据可靠性下降，无法通过降频来解决问题，而且往往会把这些Block视为坏块，进而对SSD而言，可用Block数量相应减少。

如果仅采用这种方法，对温度影响的减少有限，且无法排除“坏块”误判。

发明内容

针对以上缺陷，本发明目的在于如何降低系统温度变化对FLASH数据块的影响，进而实现降低温度带来的不利影响。

为了实现上述目的，本发明提供了一种减轻温度影响的SSD管理方法，其特征在于通过不同温度下对FLASH各个块进行读写操作，获得各个块的温敏属性，并记录追踪；在数据写入时，根据系统温度，选择适合温敏属性的块写入数据；在数据写入时记录各个数据块写入时的温度特征值，当数据读取发生错误时，根据读取块的温敏属性，调整系统温度，调整后再进行数据读取，如果还是错误才将出错块记录为坏块。

所述的减轻温度影响的SSD管理方法，其特征在于所述温敏属性包括温度不敏感、低温敏感、高温敏感和跨温敏感；所述温度特征值包括常温写入、低温写入、高温写入和特定写入。