[发明专利]一种基于电成像孔隙度谱的孔隙结构参数计算方法

权利要求书

1.一种基于电成像孔隙度谱的孔隙结构参数计算方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤(1)，选取电成像测井所在油气田，对地层孔隙结构特征具有代表性的岩心样品，进行压汞实验；

步骤(2)，通过电成像资料计算电成像孔隙度谱，构建包括最大孔隙度、孔隙度均值、分选系数、歪度、微观均值系数及峰态新的谱参数；

步骤(3)，根据孔隙度谱参数的定义进行孔隙度谱参数的计算；

步骤(4)，通过压汞毛管压力实验资料计算孔隙结构参数，刻度对应的孔隙度谱参数，得到相应的孔隙结构参数计算方程；

步骤(5)，通过孔隙度谱参数代入孔隙结构参数计算方程，实现对全井段连续定量孔隙结构参数的计算。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1),压汞实验按照GB/T29171—2012《岩石毛管压力曲线的测定》标准规定进行。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中最大孔隙度P_max：即孔隙度谱中最大孔隙度值，由下式计算：

其中，为第i个孔隙度值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中孔隙度均值P_M：即储层孔隙度平均值，由下式计算：

其中，为第i个孔隙度值；N_i为截止到第i个孔隙度时，孔隙度的个数。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中分选系数S_p：即表征地层中孔隙度的分选程度，由下式计算：

其中，为第i个孔隙度值；N_i为截止到第i个孔隙度时，孔隙度的个数；P_M为孔隙度均值。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中歪度S_kp：即表征地层中孔隙度分布的不对称性，用来描述孔隙度的大小的分布情况，由下式计算：

其中，为第i个孔隙度值；N_i为截止到第i个孔隙度时，孔隙度的个数；P_M为孔隙度均值，S_p为分选系数。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中微观均值系数α：即反映地层孔隙度分布的均值情况，由下式计算：

其中，P_M为孔隙度均值，P_max为最大孔隙度。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2),构建新的谱参数中峰态S_g：即表征孔隙度谱峰凸程度，由下式计算：

其中，为第i个孔隙度值；N_i为截止到第i个孔隙度时，孔隙度的个数；P_M为孔隙度均值，S_p为分选系数。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(4),进行孔隙结构参数的计算，按照下述公式：

P_S＝a·f(P_p)+b

其中，P_s为孔隙结构参数；P_p为孔隙度谱参数；a,b为拟合系数；f(P_p)为以P_p为变量的方程。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，孔隙结构参数中，微观均值系数相对误差不大于19.6％，分选系数相对误差不大于18.72％，半径均值相对误差不大于18.75％。