[发明专利]一种无稀释剂测定磷灰石(U-Th)/He定年方法在审
申请号: | 201810139733.1 | 申请日: | 2018-02-11 |
公开(公告)号: | CN108459070A | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 吴林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 巴晓艳 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 工作曲线 无稀释剂 磷灰石 测试 矿物 铀钍 稀释剂 电感耦合等离子质谱 测量和计算 磷灰石颗粒 标准溶液 地质过程 气体质谱 硝酸溶解 质量计算 铀和钍 绘制 配置 应用 研究 | ||
本发明提供一种无稀释剂测定磷灰石(U‑Th)/He定年方法,所述方法先对测试磷灰石颗粒进尺寸、体积和质量进行测量和计算,然后在气体质谱上测试其中4He的含量,再用硝酸溶解样品制成溶液,配置不同浓度的铀和钍的标准溶液,在电感耦合等离子质谱上测试并绘制工作曲线,结合工作曲线计算溶液中U,Th的浓度,最后用铀钍的浓度和颗粒的质量计算铀钍的含量,和4He的含量一起计算获得待测矿物的年龄,与以往的定年方法相比,本发明解决了稀释剂的限制问题;通过本发明所述方法计算,获得待测矿物的年龄,从而应用于地质过程的研究。
技术领域
本发明属于矿物同位素年代学技术领域,具体涉及一种无稀释剂测定磷灰石(U-Th)/He定年方法。
背景技术
磷灰石(U-Th)/He年代学是近几十年来快速发展起来的低温(热) 年代学方法,由于其极低的封闭温度(~75℃)和He扩散的可模拟性,大大延伸了中低温热年代学(如40Ar/39Ar,FT等)的温度下限,使其在新构造、地貌演化、环境变迁等重大地质地理问题研究中具有广阔的应用前景。磷灰石(U-Th)/He年龄的测定要分别在惰性气体质谱仪上测试子体同位素(4He)和电感耦合等离子质谱仪上测试母体同位素(238U,232Th)。目前,在磷灰石(U-Th)/He同位素定年领域中,国内外的技术人员主要应用同位素稀释法测试铀和钍的同位素,这种方法尽管有较高的精度,但是由于稀释剂主要来源于国外,放射性同位素的获取受到各种条件的限制。国内近几年相继筹建了多家 (U-Th)/He定年实验室,但是稀释剂的价格昂贵并且获取渠道有限,面临这种问题,急需一种无稀释剂的(U-Th)/He年龄测定方法。因此,目前技术中存在的上述问题,极大制约了磷灰石(U-Th)/He定年技术在地质研究中的应用。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供一种无稀释剂测定磷灰石 (U-Th)/He定年方法,所述方法先对测试磷灰石颗粒进尺寸、体积和质量进行测量和计算,然后在气体质谱上测试其中4He的含量,再用硝酸溶解样品制成溶液,配置不同浓度的铀和钍的标准溶液,在电感耦合等离子质谱上测试并绘制工作曲线,结合工作曲线计算溶液中 U,Th的浓度,最后用铀钍的浓度和颗粒的质量计算铀钍的含量,和4He的含量一起计算获得待测矿物的年龄;
进一步地,所述方法包括以下步骤:
步骤1:挑选样品测量尺寸:在160倍体式显微镜下挑选晶形完整、纯净、无包裹体及裂隙的磷灰石颗粒,拍照并测颗粒的三维尺寸信息;根据磷灰石的形状、尺寸和密度计算其质量;
步骤2:子体4He的测试:将步骤1中的颗粒用1毫米直径、1 毫米长度的铂金筒包裹封口,装载到Alphachron MK II惰性气体质谱仪中测试样品中的4He含量;
步骤3:矿物颗粒的溶解:将步骤2中测试完4He含量的颗粒和铂金筒一起转移到溶样瓶中,加入25微升硝酸溶解样品,之后加入 325微升Milli-Q纯净水;
步骤4:配置不同浓度的U,Th标准溶液;
步骤5:将电感耦合等离子质谱仪做质量校正,用调谐溶液调谐质谱仪获得最佳信号,测试不同浓度的U,Th溶液,作出工作曲线;
步骤6:将步骤3中溶液测引入到电感耦合等离子质谱仪中测试,利用步骤5中得到的工作曲线计算磷灰石颗粒中铀和钍的浓度;
步骤7:利用步骤1中得到的磷灰石颗粒的质量计算绝对铀和的钍绝对含量;
步骤8:利用放射性衰变公式计算磷灰石颗粒的年龄;
进一步地,步骤8中所应用的放射性衰变公式为:
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