[发明专利]一种红外哈特曼波前传感器

说明书

本发明公开了一种红外哈特曼波前传感器，所述传感器包括：内层杜瓦和外层杜瓦，该内层杜瓦位于外层杜瓦内，该内层杜瓦内部设置有：准直透镜、滤光片、微透镜阵列、焦平面阵列，该准直透镜、滤光片、微透镜阵列、焦平面阵列的中心连线为直线，且该直线穿过该视场光阑；该内层杜瓦为低温杜瓦。本发明提供的技术方案具有实现哈特曼传感器的高性能的优点。

技术领域

本发明属于自适应光学技术领域，具体涉及一种红外哈特曼波前传感器。

背景技术

哈特曼传感器是一种通过测量波前斜率来获得波前相位信息的光学测量设备，是自适应光学、主动光学、激光传输等领域中最重要的核心器件。

在自适应系统中，通过哈特曼传感器实时测量大气扰动，并反馈给相位补偿元件，从而实现系统波前的实时补偿，以使望远镜达到衍射极限的成像质量。由于红外波段1～3um，3～5um，和8～12um是大气窗口，具有良好的大气透过率，同时又具有较低的天光背景辐射，因此红外波段自适应技术的研究也具有重要意义。然而在红外波段的高性能波前传感器研制具有尚具有很大困难，由于红外波段系统相比于可见光波段，易受到视场外红外热辐射、光机结构自身热辐射的影响，因此高性能的红外设备必须采用制冷型探测器，使光学系统的出瞳与相机的冷阑达到100％的匹配。

然而对于哈特曼传感器的光学系统，是对于各个子孔径单独成像获得点斑，即相当于多个通道成像，因此无法实现各个出瞳与相机冷阑的匹配，无法获得高的波前探测性能。

发明内容

本申请提供一种基于冷光学技术的红外哈特曼波前传感器。可以实现哈特曼传感器的高性能的优点。

第一方面，提供一种红外哈特曼波前传感器，所述传感器包括：内层杜瓦和外层杜瓦，该内层杜瓦位于外层杜瓦内，该内层杜瓦内部设置有：准直透镜、滤光片、微透镜阵列、焦平面阵列，该准直透镜、滤光片、微透镜阵列、焦平面阵列的中心连线为直线，且该直线穿过该视场光阑；该内层杜瓦为低温杜瓦。

本发明提出采用冷光学技术，将哈特曼传感器的光学准直透镜、微透镜、带通滤光片、及红外焦平面阵列集成到真空低温杜瓦内，实现哈特曼传感器的高性能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种哈特曼传感器的光学系统的结构图。

图2为本发明提供的基于冷光学技术的红外哈特曼波前传感器的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。