[发明专利]用于校正图像渐晕的方法、成像装置及成像系统有效
申请号: | 201810082342.0 | 申请日: | 2018-01-29 |
公开(公告)号: | CN108429872B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 谢勇 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/217 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 马芬;姚开丽 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校正 图像 方法 成像 装置 系统 | ||
1.一种成像装置,其具有光圈并且能够捕获多个图像,其特征在于所述成像装置包括:
透镜,所述透镜能够从第一位置移动至新位置;
图像传感器,所述图像传感器被定位成平行于所述透镜,其中所述图像传感器和所述透镜分离设置,并且当所述透镜位于所述第一位置时,所述图像传感器生成包括第一总数的像素数据的第一图像,当所述透镜移动至所述新位置时,所述图像传感器生成包括第二总数的像素数据的第二图像,每个图像包括多个拐角;
致动器,所述致动器耦接到所述透镜并且能够沿着平行于所述图像传感器的平面将所述透镜从所述第一位置重新定位到所述新位置;和
像素校正模块,所述像素校正模块耦接到所述图像传感器并且被配置成从所述第一总数的像素数据中选择性地移除第一组像素数据并且将所述第一组像素数据替换为所述第二总数的像素数据中的第二组像素数据;
其中:
所述第一组像素数据位于所述第一图像的多个拐角中的一个拐角处;以及,
所述第二组像素数据位于所述第二图像的非拐角区域中,所述非拐角区域定义为偏离所述第二图像的多个拐角的区域。
2.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:
所述图像传感器包括第一中心点;
所述透镜包括第二中心点;并且
所述成像装置捕获:
其中所述第一中心点和所述第二中心点沿着中心轴线对准的至少一个图像;和
其中所述第二中心点远离所述中心轴线定位的至少一个图像。
3.根据权利要求1所述的成像装置,其特征在于:
所述成像装置顺序地捕获所述第一图像和所述第二图像;并且
所述第一组像素数据对应于所述第一图像中呈现渐晕的区域;并且
所述第二组像素数据对应于基于所述透镜相对于所述图像传感器的位置的一组像素。
4.一种用于校正图像渐晕的方法,其特征在于包括:
用成像装置捕获主图像数据,所述成像装置包括:
光圈;
透镜,所述透镜具有第一中心点;
图像传感器,所述图像传感器具有第二中心点;和
致动器,所述致动器耦接到所述透镜并且能够定位所述透镜;
将所述主图像数据的至少一部分保存到存储设备;
沿着平行于所述图像传感器的平面将所述透镜重新定位到新位置;
用所述成像装置捕获子图像数据;
将所述子图像数据的至少一部分保存到所述存储设备;以及
将所述主图像数据的子集替代为所述子图像数据的子集以形成校正图像;
其中:
所述主图像数据形成包括多个第一拐角的第一图像;
所述子图像数据形成包括多个第二拐角的第二图像;
所述主图像数据的子集位于所述第一图像的多个第一拐角中的一个拐角处;以及,
所述子图像数据的子集位于所述第二图像的非拐角区域中,所述非拐角区域定义为偏离所述第二图像的多个第二拐角的区域。
5.根据权利要求4所述的用于校正图像渐晕的方法,其特征还在于包括:连续地捕获物体的第一图像和第二图像,其中:
所述主图像数据的子集对应于所述第一图像中呈现渐晕的区域;并且
其中所述第一图像和所述第二图像呈现渐晕,而所述校正图像没有渐晕。
6.根据权利要求4所述的用于校正图像渐晕的方法,其特征还在于包括:
在捕获所述主图像数据时使所述第一中心点和所述第二中心点沿着中心轴线对准。
7.根据权利要求4所述的用于校正图像渐晕的方法,其特征在于,重新定位所述透镜包括将所述第一中心点移动远离中心轴线。
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