[发明专利]一种DAC误差测量方法及装置

说明书

本申请公开了一种DAC误差测量方法及装置，包括：ADC和反馈DAC，ADC的测量输入包括固定频率的方波信号、固定逻辑电平的直流信号和反馈DAC的模拟输出；测量选择模块用于向被单独选择的源单元提供数字输出中的测量数字，向剩余源单元提供数字输出的剩余数字，测量数字为可翻转数字，剩余数字为不翻转数字；测量模块用于根据数字输出测量数字输出的幅值。由于数字输出中的一路翻转数字为测量数字，剩余数字为不翻转数字，使得测量选择模块可以单独选择出一个源单元接收测量数字，达到被选择的源单元在误差测量时不会引入其他源单元的匹配误差，再加上直流信号为恒定电平，误差测量都是在同一偏置条件下，从而有利于提升误差测量精度。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种DAC误差测量方法及装置。

背景技术

基于德尔塔西格玛调制器(delta-sigma modulator，DSM)结构的模数转换器(analog-to-digital converter，ADC)在通信和音频领域有着广泛的应用，是高精度ADC的最佳备选方案。

DSM由环路滤波器(Loop Filter，简称LF)、量化器(Quantizer，简称Q)和反馈数模转换器(digital-to-analog converter，DAC)组成。信号量化噪声比(signal-to-quantization-noise ration，简称SQNR)由环路滤波器的阶数和量化器的位数决定的，阶数和位数越高，SNQR越高，DSM的性能越好，但是电路复杂度也越大。为了兼顾DSM性能和电路复杂度，环路滤波器的阶数一般取3阶或者4阶，量化器的位数取4位。

相对于1位量化器，4位的量化器带来一个问题：反馈DAC的不匹配将恶化调制器的线性度，尤其最外环路的DAC。评价线性度的指标之一是总谐波失真(total-harmonicdistortion，简称THD)来反映ADC的线性性能。应用在DSM中的DAC一般采用电流舵结构(“Current Steering”)，DAC的不匹配主要由电流舵的单位电流(简称“Icell”)之间的不匹配造成的。

目前，目前在高速DSM设计中，基本上采用DAC校正技术，通过设计DAC误差测量电路和DAC误差补偿电路解决DAC的不匹配问题。在DAC误差测量电路中，当采用复杂的信号激励源时，如将满摆幅振荡信号，会增加DAC误差测量电路的复杂度，采用简单的信号激励源时，如直流信号激励源，可以减小电路复杂度，但是每次测量的测量参数存在差异，如测量不同的电流单元时采用的比较器不同，导致测量精度不理想。

综上，现有的DAC误差测量电路存在测量精度不理想的技术问题。

发明内容

本申请提供一种DAC误差测量方法及装置，用以提升DAC误差测量精度。

本申请提供的DAC误差测量装置用于反馈DAC的匹配误差测量，可以适用于连续时间和离散时间的DSM，也可以适用于差分和单端DSM，还可以应用在其他含有DAC的电路系统中，比如Pipeling-ADC，或者单纯的DAC电路，均可以采用本申请记载的DAC误差测量方法及装置。