[发明专利]制作具有一体式应变指示器的部件的方法

权利要求书

1.一种制作具有一体式应变指示器的部件的方法，所述方法包括：

形成所述部件，所述部件包括内部体积和外表面，所述内部体积包括第一材料；以及

在所述外表面的一部分上直接沉积多个基准标记，所述基准标记包括与所述第一材料兼容的第二材料，所述外表面的所述部分包括所述部件的所述外表面上的分析区域，所述分析区域界定标距，并且所述多个基准标记中的每个基准标记具有介于所述标距的十分之一与二十分之一之间的最大直径。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述分析区域包括所述部件的寿命限制区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一材料是镍基超合金，且所述第二材料是铝化合物。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述在所述部件的所述外表面上直接沉积基准标记的步骤不影响所述部件的颗粒结构，并且不会在所述部件中形成永久性应力梯级。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述部件的所述外表面包括所述第一材料。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述部件的所述外表面包括热障层，所述热障层包括所述第二材料，并且直接沉积所述多个基准标记包括在所述热障层的外表面上直接沉积所述多个基准标记。

7.一种监测部件的方法，所述部件包括内部体积和外表面，所述内部体积包括第一材料，所述方法包括：

使用三维数据采集装置初始地直接测量所述部件的所述外表面的一部分上的多个基准标记；

基于所述初始直接测量创建所述部件的三维模型；

使所述部件经历至少一个工作循环；

在所述至少一个工作循环之后使用所述三维数据采集装置后续直接测量所述多个基准标记；

基于所述后续直接测量创建所述部件的三维模型；以及

将所述基于所述初始直接测量的三维模型与所述基于所述后续直接测量的三维模型进行比较；

其中所述多个基准标记直接沉积在所述部件的所述外表面的所述部分上，并且所述基准标记包括与所述第一材料兼容的第二材料。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，基于所述初始直接测量的所述部件的所述三维模型包括每个基准标记的初始位置的表示，基于所述后续直接测量的所述部件的所述三维模型包括每个基准标记的后续位置的表示，并且所述比较的步骤包括将所述多个基准标记的所述初始位置与所述多个基准标记的所述后续位置进行比较。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，每个基准标记的所述初始位置的所述表示包括每个基准标记的矩心的三维坐标，并且每个基准标记的所述后续位置的所述表示包括每个基准标记的所述矩心的三维坐标。

10.根据权利要求7所述的方法，其中，所述三维数据采集装置包括结构光发射器和检测器；

其中，所述创建初始直接测量的步骤包括将结构光投射到所述部件的所述外表面的所述部分上、并在所述结构光被所述外表面反射之后检测所述结构光，并且所述创建后续直接测量的步骤包括将结构光投射到所述部件的所述外表面的所述部分上、并在所述结构光被所述外表面反射之后检测所述结构光；

其中，所述基于所述初始直接测量创建所述部件的三维模型的步骤包括计算初始扫描期间检测到的所述结构光的至少一个特性的初始值，并且所述基于所述后续直接测量创建所述部件的三维模型的步骤包括计算所述后续直接测量期间检测到的所述结构光的所述至少一个特性的后续值。