[发明专利]电子部件输送装置及电子部件检查装置在审

专利信息
申请号: 201810053998.X 申请日: 2018-01-19
公开(公告)号: CN108414850A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 高田冬生 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;B65G47/52
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张永明;玉昌峰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子部件 凹部 载置部件 输送装置 检查装置 侧壁部 载置 俯视 配置 加工 制造
【说明书】:

一种电子部件输送装置及电子部件检查装置,具有未提高加工精度就制造出的第二载置部件。电子部件输送装置(10)能够配置具有载置电子部件(90)的第一凹部的第一载置部件,并具有:第二载置部件,具有载置电子部件(90)的第二凹部;以及输送部,能够将电子部件(90)从第一载置部件输送至第二载置部件,第二间隔比第一间隔大,第一间隔是电子部件(90)载置于第一凹部且俯视下第一凹部的中心与电子部件(90)的中心重叠的情况下的第一凹部的侧壁部与电子部件(90)的隔,第二间隔是电子部件(90)载置于第二凹部且俯视下第二凹部的中心与电子部件(90)的中心重叠的情况下的第二凹部的侧壁部与电子部件(90)的间隔。

技术领域

本发明涉及电子部件输送装置及电子部件检查装置。

背景技术

已知一种收纳工具(例如,参照专利文献1),具有配置成矩阵状并单独收纳多个电子部件的腔室(凹部)。在各腔室内,电子部件被定位。处于该定位状态的电子部件例如被机器人臂等输送机构从收纳工具拿起,并以该状态输送。

另外,一直以来,例如已知检查IC器件等电子部件的电特性的检查装置。这样的检查装置构成为,将电子部件从供给1盘供给至检查部,对供给至检查部的电子部件进行电特性的检查,在该检查结束之后,将电子部件从检查部回收至回收盘。另外,收容于供给盘的电子部件暂时转移送至穿梭件,通过穿梭件而输送至检查部附近。在穿梭件上设置形成有凹部的托盘,电子部件收容于该凹部。

电子部件从供给盘至穿梭件的托盘的移动利用供给机器人执行,但例如由于收容于供给盘的电子部件的布置、供给机器人的控制故障等各种因素,电子部件有时不能以正常的状态载置于托盘的凹部、即以异常状态(所谓的“浮动”状态)载置。若电子部件以异常状态载置于凹部,则在将该电子部件输送至检查部时,可能无法通过检查用机器人(测量机器人)支承电子部件,或者电子部件由于与检查用机器人过度接触而损坏。

在此,已知例如使用载置电子部件的托盘的定位装置的手段(例如,参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平11-198988号公报

专利文献2:日本特开2000-162272号公报

然而,在专利文献1所记载的收纳工具中,需要定位各腔室内的电子部件,因此必须尽可能小地设置腔室的侧壁部与电子部件的间隔(间隙)。在该情况下,必然要提高腔室的加工精度,与此相应地,收纳工具的制造成本(加工成本)也会增加。

另外,在专利文献2所记载的检查装置中,有时无法按照载置于凹部的每个电子部件进行定位。

发明内容

本发明是为了解决上述课题而完成的,能够通过以下的方式而实现。

本发明提供一种电子部件输送装置,其特征在于,能够配置第一载置部件,所述第一载置部件具有载置电子部件的第一凹部,所述电子部件输送装置具有:第二载置部件,具有载置所述电子部件的第二凹部;以及输送部,能够将所述电子部件从所述第一载置部件输送至所述第二载置部件,第二间隔比第一间隔大,所述第一间隔是所述电子部件载置于所述第一凹部且俯视下所述第一凹部的中心与所述电子部件的中心重叠的情况下的所述第一凹部的侧壁部与所述电子部件的间隔,所述第二间隔是所述电子部件载置于所述第二凹部且俯视下所述第二凹部的中心与所述电子部件的中心重叠的情况下的所述第二凹部的侧壁部与所述电子部件的间隔。

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