[发明专利]像素电流检测范围调整方法、检测电路及显示装置

说明书

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测范围调整方法、像素电流检测电路及显示装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示装置由于其轻薄、能耗低、亮度高以及反应速度快等特点，越来越成为显示领域的主流产品。OLED显示装置的像素单元通过驱动电路对OLED发光元件供给电流而实现发光。驱动电路一般包括驱动晶体管，储存电容和开关晶体管，像素电流受驱动晶体管的栅源电压、阈值电压及特征尺寸等的影响。由于OLED制造工艺的偏差，驱动晶体管阈值电压或迁移率的漂移，驱动线路电阻的变化等，在使用中OLED不同像素单元的像素电流会存在差异，且同一像素单元的像素电流也会随使用而变化，从而导致发光不均匀、斑点、残影等显示缺陷。

相关技术中通常将驱动电路通过感测线连接到检测电路中，检测出像素电流的实际大小后，进行相应的电学补偿。然而现有的检测电路检测范围是固定的，当OLED使用条件或驱动电路发生改变，或者像素电流与初始值偏差较大时，实际像素电流可能超出原来的检测范围，导致无法准确的检测像素电流的大小。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种检测显示装置驱动电流的方法、电路及显示装置，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的像素电流检测范围不可调的问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一个方面，提供一种检测范围调整方法，应用于像素电流检测电路，所述检测电路用于利用第一参考电压和待检测的像素电流生成积分电压以及根据所述积分电压变化到第二参考电压所用的变化时间确定所述像素电流的大小，所述调整方法包括：

根据所述像素电流的大小与所述检测电路的检测范围的关系，调整所述第一参考电压和/或所述第二参考电压的大小。

在本公开的一种示例性实施例中，所述调整所述第一参考电压或所述第二参考电压的大小包括：

当所述像素电流大于所述检测范围的中心值时，增大所述第一参考电压和/或减小所述第二参考电压；

当所述像素电流小于所述检测范围的中心值时，减小所述第一参考电压和/或增大所述第二参考电压。

在本公开的一种示例性实施例中，所述调整所述第一参考电压或所述第二参考电压的大小包括：

当所述像素电流超出所述检测范围上限时，增大所述第一参考电压和/或减小所述第二参考电压；

当所述像素电流超出所述检测范围下限时，减小所述第一参考电压和/或增大所述第二参考电压。

在本公开的一种示例性实施例中，确定所述积分电压变化到第二参考电压所用的变化时间包括：

在所述积分电压开始输出时，通过一计数器开始计数；

在所述积分电压变化到第二参考电压时，使所述计数器停止计数；

通过所述计数器的计数结果确定所述积分电压变化到第二参考电压所用的变化时间。

在本公开的一种示例性实施例中，所述方法还包括：

调整所述计数器的计数频率，以将所述检测电路的检测精度调整到目标检测精度。

在本公开的一种示例性实施例中：所述计数器根据时钟信号计数；

所述调整所述计数器的计数频率包括：

根据所述变化时间调整所述时钟信号的频率。

根据本公开的一个方面，提供一种像素电流检测电路，包括：

积分电路，用于利用第一参考电压和待检测的像素电流生成积分电压；

计时模块，用于检测所述积分电压变化到第二参考电压所用的变化时间；

其中，所述第一参考电压和第二参考电压中至少一个可调。

在本公开的一种示例性实施例中，所述积分电路包括：

运算放大器，第一输入端连接所述像素电流，第二输入端连接所述第一参考电压，输出端连接所述计时模块；

电容器，连接在所述运算放大器的第一输入端和输出端之间；

第一开关，设置于所述第一输入端，用于开通或关断所述像素电流；

第二开关，设置于所述运算放大器的第一输入端和输出端之间，并与所述电容器并联。

在本公开的一种示例性实施例中，所述计时模块包括：