[发明专利]一种千分尺示值检具在审

专利信息
申请号: 201810036703.8 申请日: 2018-01-15
公开(公告)号: CN108168394A 公开(公告)日: 2018-06-15
发明(设计)人: 汪先根;王婷 申请(专利权)人: 成都成量工具集团有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B3/18
代理公司: 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 代理人: 李安霞;曾克
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 螺纹孔 千分尺 撑架 检具 支架 调节螺杆 开口槽 销轴 互相垂直 夹紧螺杆 快速精准 示值误差 锁紧螺母 支架铰接 轴线垂直 测微头 检定 量具 投影 平行 检测
【说明书】:

发明公开一种千分尺示值检具,属于量具检具领域,包括撑架和支架,所述支架一端设有第一螺纹孔,第一螺纹孔水平,第一螺纹孔设有调节螺杆,调节螺杆上设有锁紧螺母,所述撑架的一端通过销轴与支架铰接,支架另一端、撑架另一端均设有开口槽,开口槽相对的两端均设有第二螺纹孔,第二螺纹孔设有夹紧螺杆,销轴平行于第二螺纹孔,第二螺纹孔轴线垂直于第一螺纹孔轴线,第二螺纹孔轴线与第一螺纹孔轴线在水平面内的投影互相垂直。本发明能快速精准检定千分尺测微头示值误差,代替了组合块规式检测,对提高效率有极大作用。

技术领域

本发明涉及量具检具领域,尤其涉及一种千分尺示值检具。

背景技术

常规的,大型外径千分尺的示值误差在检测时,需要用大尺寸块规或组合块规进行外径千分尺示值误差的检测,由于块规尺寸越大,其制造误差也相应的增大,其精度偏低,进而使组合块规的综合误差较大;且用大尺寸块规或组合块规操作起来非常不方便,由于尺寸越大越不易端平,因此不能进行准确的测量,进而产生测量误差;此外,用大尺寸块规或组合块规检测时间长,需要进行多次测量来确定示值误差,其工作效率低下。

发明内容

本发明旨在提供一种千分尺示值检具,用于解决现有的外径千分尺在使用大尺寸块规或组合块规进行示值误差的检测时存在的误差大、使用不方便的问题。

为达到上述目的,本发明采用的技术方案如下:一种千分尺示值检具,包括撑架和支架,所述支架一端设有第一螺纹孔,第一螺纹孔水平,第一螺纹孔设有调节螺杆,调节螺杆上设有锁紧螺母,所述撑架的一端通过销轴与支架铰接,支架另一端、撑架另一端均设有开口槽,开口槽相对的两端均设有第二螺纹孔,第二螺纹孔均设有夹紧螺杆,销轴平行于第二螺纹孔,第二螺纹孔轴线垂直于第一螺纹孔轴线,第二螺纹孔轴线与第一螺纹孔轴线在水平面内的投影互相垂直。

优选的,所述调节螺杆、夹紧螺杆头端均设有圆盘,圆盘直径大于螺纹直径,圆盘侧壁设有防滑纹。

进一步的,所述调节螺杆、夹紧螺杆均为滚花手拧螺杆。

优选的,所述锁紧螺母侧壁设有防滑纹。

进一步的,所述调节螺杆尾端安装有钢球。

进一步的,所述夹紧螺杆的尾端设有压块。

优选的,所述夹紧螺杆的尾端设有内螺纹,所述压块设有通孔,通孔为沉头孔,通孔内设有压紧螺钉,压紧螺杆与夹紧螺杆尾端的内螺纹相适配。

优选的,所述压块为锰黄铜。

本发明的有益效果为:

1、支架另一端、撑架另一端开口槽及夹紧螺杆的设置,能够保证本发明的检具稳定的夹持在千分尺本体上;

2、支架一端第一螺纹孔及调节螺杆的设置,具有调节长度的作用。

附图说明

图1为本发明主视、俯视结构示意图;

图2为支架主视、俯视结构示意图;

图3为撑架主视、俯视结构示意图;

图4为调节螺杆结构示意图;

图5为夹紧螺杆结构示意图;

图6为锁紧螺母结构示意图;

图7为压块结构示意图;

图8为压紧螺钉结构示意图。

图中:1-撑架、2-销轴、3-调节螺杆、4-锁紧螺母、5-支架、6-钢球、7-夹紧螺杆、8-压块、9-压紧螺钉、10-量块、11-千分尺、30-第一螺纹孔、70-第二螺纹孔。

具体实施方式

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