[发明专利]一种集成电路板的测试装置

说明书

本发明公开了一种集成电路板的测试装置。该集成电路板的测试装置包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板；可拆卸安装在所述滑动载板上的待测品载板；第一驱动组件，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板移动至测试位置；第二驱动组件，连接在所述第二驱动组件上的连接件；可拆卸安装在所述连接件上的测试板，在所述测试板上设有测试探针，所述第二驱动组件被配置为在所述滑动载板移动至所述测试位置后能带动所述连接件向待测品载板的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。本发明要解决的一个技术问题是对不同电子产品集成电路板进行测试的测试装置不能通用。

技术领域

本发明涉及产品测试技术领域，更具体地，本发明涉及一种集成电路板的测试装置。

背景技术

随着消费类电子产品的种类越来越多，更新速度越来越快，诸如手机、游戏机、VR(虚拟现实)等产品，为电子产品定制开发的测试治具等设备也会出现因产品换代无法再利用的现象。

在不同种类电子产品中，其集成电路板的结构大致相近，甚至于集成电路板的尺寸也相近。现有技术中，对不同电子产品集成电路板进行测试的测试装置分别设计加工，还不能通用，增加了测试治具的设计加工周期。

而在对集成电路板的测试中，虽测试项目较多，测试项目不同。但是，在测试过程中一般都需要利用测试探针与产品测试点接触导通。在连接各种测试设备后，即能对电路板进行测试。

考虑到集成电路板测试的共性，为降低因产品更新换代导致的测试治具无法利用的问题，同时也为缩短测试治具设计加工周期，有必要设计一种用于测试集成电路板的装置。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种集成电路板的测试装置的新技术方案。

根据本发明的一个方面，提供了一种集成电路板的测试装置。该测试装置包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板；可拆卸安装在所述滑动载板上的待测品载板；第一驱动组件，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板移动至测试位置；第二驱动组件，连接在所述第二驱动组件上的连接件；可拆卸安装在所述连接件上的测试板，在所述测试板上设有测试探针，所述第二驱动组件被配置为在所述滑动载板移动至所述测试位置后能带动所述连接件向待测品载板的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。

可选地，还包括可拆卸安装在所述连接件上的测试电路板，所述测试电路板被配置为能通过所述测试探针与待测电路板连接。

可选地，所述连接件为中空结构的框形，所述测试板和所述测试电路板分别安装在所述连接件的两侧表面。

可选地，还包括可拆卸地安装在所述第一支撑件上的外接板，在所述外接板上设有与所述测试电路板电连接的接口。

可选地，在所述待测品载板上设有定位待测电路板位置的的定位结构。

可选地，在所述第一支撑件上设有导轨，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板沿所述导轨滑动。

可选地，还包括止挡机构，所述止挡机构被配置为能对所述滑动载板进行止挡以使所述滑动载板止停在所述测试位置。

可选地，在所述滑动载板上设有用于承载所述待测品载板的第二支撑件。

可选地，在所述滑动载板和所述待测品载板上分别设有相配合的定位柱和定位孔。

可选地，所述第一支撑件包括盒体和安装在所述盒体上的盖板，所述滑动载板滑动连接在所述盖板上。

根据本公开的一个实施例，该测试装置包括通用部分和专用部分。专用部分主要包括待测品载板、测试板。待测品载板可拆卸安装在滑动载板上，能实现待测品载板的组装、更换。测试板可拆卸安装在所述连接件上，能实现测试板的组装、更换。