[发明专利]测量装置及隔垫物高度测量方法

说明书

本发明公开了一种测量装置及隔垫物高度测量方法，涉及测量技术领域，主要目的是简化彩膜基板上隔垫物高度的检测方法，提高彩膜基板上隔垫物测量的准确度。本发明的主要技术方案为：一种测量装置，包括：电容部，所述电容部包括相对设置的第一导电板和第二导电板，其中，所述第一导电板和所述第二导电板之间的距离可调；检测部，所述检测部连接于所述电容部，用于检测所述电容部的电容值；电源部，所述电源部的两极分别连接于所述第一导电板和所述第二导电板。本发明主要用于测量彩膜基板上的隔垫物高度。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种测量装置及隔垫物高度测量方法。

背景技术

液晶显示器由于具有低功率、高画质和轻巧等诸多优势，已经成为显示领域中的主导产品。

液晶显示器的显示面板中包括彩膜基板和TFT基板，在彩膜基板和TFT基板之间设置有液晶层，为了控制彩膜基板和TFT基板之间的间隙，以保持液晶层的厚度，在彩膜基板靠近液晶层的一侧设有多个间隔设置的隔垫物，隔垫物是显示基板的辅助结构，用于支撑保持彩膜基板和TFT基板之间的间隙距离，其中，彩膜基板上多个隔垫物的高度数据是决定液晶显示屏质量的重要参数，目前，对隔垫物高度的测量方法主要为光学法，但是，采用光学法的测量设备和测量方法都比较复杂，这样就导致测量效率低，在对隔垫物进行测量时，只能抽选彩膜基板上的少量隔垫物进行测量，这样就无法保证彩膜基板上全部隔垫物测量的精确度。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种测量装置及隔垫物高度测量方法，主要目的是简化了彩膜基板上隔垫物高度的检测方法，提高彩膜基板上隔垫物测量的准确度。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种测量装置，包括：

电容部，所述电容部包括相对设置的第一导电板和第二导电板，其中，所述第一导电板和所述第二导电板之间的距离可调；

检测部，所述检测部连接于所述电容部，用于检测所述电容部的电容值；

电源部，所述电源部的两极分别连接于所述第一导电板和所述第二导电板。

进一步的，所述第一导电板包括多个导电片，多个所述导电片并联连接于所述电源部的第一电极，其中，多个所述导电片设置在同一平面内，多个所述导电片与所述第二导电板相对设置，所述检测部分别连接于多个所述导电片，用于检测每个所述导电片与所述第二导电板之间的电容值。

进一步的，所述第一导电板还包括：绝缘板和导电基板，多个所述导电片设置于所述绝缘板的第一面上，所述导电基板设置于所述绝缘板背离所述第一面的一侧，其中，所述电源部通过所述导电基板连接于多个所述导电片。

进一步的，所述的测量装置，还包括：

驱动部，所述第一导电板连接于所述驱动部的驱动端，所述驱动部用于驱动所述第一导电板活动，以调节所述第一导电板和所述第二导电板之间的距离。

进一步的，所述的测量装置，还包括：

处理模块，所述处理模块的输入端连接于所述驱动部和所述检测部，用于获取所述电容部的电容信息以及所述第一导电板与所述第二导电板之间的距离信息，并根据所述电容信息和所述距离信息计算出被测基板的高度信息；

显示模块，所述显示模块连接于所述处理模块的输出端，用于显示所述被测基板的高度信息。

进一步的，所述的测量装置，还包括：

支撑架，所述支撑架上设有多个距离所述第二导电板不同高度的支撑位置，所述第一导电板设置在任意一个所述支撑位置上，其中，多个所述支撑位置的数量至少为三个。

进一步的，所述的测量装置，还包括：