[发明专利]对基板作业管理系统有效

专利信息
申请号: 201780093394.1 申请日: 2017-07-25
公开(公告)号: CN110999567B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 铃木敏也 申请(专利权)人: 株式会社富士
主分类号: H05K13/08 分类号: H05K13/08
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 杨青;安翔
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 作业 管理 系统
【权利要求书】:

1.一种对基板作业管理系统,用于包含向基板安装电子元件的元件安装机及检测安装于所述基板的所述电子元件的安装状态并对应各所述基板或各所述电子元件来判定合格与否的基板检查机的对基板作业线中,

所述对基板作业管理系统具备:

不合格统计部,算出表示在所述基板检查机中判定为不合格的所述基板或所述电子元件的发生比率的不合格率,或者求出所述判定为不合格的所述基板或所述电子元件的不合格品数;

属性变更识别部,识别所述电子元件所具有的可能对所述检查造成影响的属性在所述元件安装机中的变更;

原因部位推定部,在所述不合格率或所述不合格品数超过了预定值时,根据所述属性是否变更来推定所述元件安装机及所述基板检查机中的哪一个为所述不合格的原因部位;及

不合格对策要求部,向推定出的原因部位要求针对所述不合格的对策,

所述原因部位推定部在所述属性变更的情况下推定为所述基板检查机为所述原因部位,在所述属性未变更的情况下推定为所述元件安装机为所述原因部位。

2.根据权利要求1所述的对基板作业管理系统,其中,

所述基板检查机保持有按照各所述电子元件的种类进行设定而用于所述检查的检查数据,

所述原因部位推定部在所述属性变更的情况下推定为所述基板检查机保持的所述检查数据为所述原因部位。

3.根据权利要求2所述的对基板作业管理系统,其中,

所述基板检查机拍摄安装于所述基板的所述电子元件而取得图像数据,进而使用所述检查数据对所述图像数据实施图像处理,从而实施所述检查,

所述检查数据包含与所述电子元件的大小、形状及外观色相关的基准值数据及容许差数据。

4.根据权利要求1所述的对基板作业管理系统,其中,

所述元件安装机以可更换的方式使用保持多个所述电子元件的元件保持介质,

所述属性变更识别部通过掌握所述元件保持介质的更换,来识别所述属性的变更。

5.根据权利要求2所述的对基板作业管理系统,其中,

所述元件安装机以可更换的方式使用保持多个所述电子元件的元件保持介质,

所述属性变更识别部通过掌握所述元件保持介质的更换,来识别所述属性的变更。

6.根据权利要求3所述的对基板作业管理系统,其中,

所述元件安装机以可更换的方式使用保持多个所述电子元件的元件保持介质,

所述属性变更识别部通过掌握所述元件保持介质的更换,来识别所述属性的变更。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的对基板作业管理系统,其中,

所述对基板作业管理系统还具备不合格时数据提示部,所述不合格时数据提示部在所述不合格率或所述不合格品数超过了所述预定值时提示与所述检查的实施状况相关的数据。

8.根据权利要求1~6中任一项所述的对基板作业管理系统,其中,

所述电子元件所具有的所述属性包含所述电子元件的制造商的类别、所述电子元件的制造时间的类别、所述电子元件的批次的类别及保持多个所述电子元件的元件保持介质的类别中的任一个。

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