[发明专利]谱数据处理装置

说明书

质谱制作部(22)基于通过对试样进行分析所收集到的数据来制作目标化合物的峰处的原质谱。背景谱制作部(23)按照规定的多个背景获取条件来分别制作背景谱。差分质谱计算部(25)求出从原质谱减去背景谱所得到的差分质谱，谱相似度计算部(27)计算各差分质谱与从谱库(28)选择的候选化合物的标准质谱之间的相似度。若最大相似度超过规定阈值，则化合物鉴定部(29)将候选化合物鉴定为目标化合物。由此，操作员无需一边确认色谱等一边指定背景获取条件，而能够基于适当地去除背景所得到的结果来进行准确的化合物鉴定。

技术领域

本发明涉及质谱分析装置、吸收分光光度计、荧光X射线分析装置等对通过测定试样所得到的谱数据进行处理的谱数据处理装置，更详细而言，涉及用于利用谱来鉴定试样中包含的化合物的谱数据装置。

背景技术

在利用质谱分析来鉴定试样中的化合物时，一般使用收录有各种化合物的标准质谱的谱库进行库检索。在库检索中，通常分别计算通过针对包含作为鉴定对象的未知化合物的试样进行质谱分析所得到的实测质谱与谱库中收录的各种化合物的标准质谱之间的谱图案的相似度。然后，将计算出的相似度与规定阈值进行比较或者比较多个候选化合物的相似度，来将最有可能的标准质谱所对应的化合物估计为未知化合物。

在试样中包含多个化合物的情况下，使用将气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)与质谱分析装置组合而成的GC-MS或LC-MS，但在多个化合物无法完全分离、或者异物与目标化合物在相同时刻洗脱出的情况下，源自其它化合物(包含异物)的质谱作为背景而重叠在目标化合物的质谱上。若将无法忽视这种背景谱的影响的实测质谱供于库检索，则化合物鉴定的精度降低。对此，以往已知有专利文献1中公开的背景去除处理。

专利文献1中记载的装置进行如下的处理：将在色谱上不存在源自目标化合物的峰的保留时间得到的质谱视为背景谱，从目标化合物的峰出现的位置(保留时间)处的原质谱减去背景谱。色谱上不存在源自目标化合物的峰的保留时间是指例如比源自目标化合物的峰的起点靠前的规定时间范围、或比源自目标化合物的峰的终点靠后的规定时间范围等。这种处理对于去除由例如流动相中夹杂的异物等设想在保留时间整体都几乎均匀地出现的异物所引起的背景谱而言是有效的。

但是，不适用于去除由峰与目标化合物的峰重叠的其它化合物引起的背景谱。在源自其它化合物的峰与目标化合物的峰重叠的可能性高的情况下，需要根据目标化合物的峰出现的时间范围(即峰的起点至终点为止的期间的时间范围)内的质谱估计背景谱。于是，以往也使用了如下的算法以估计背景谱。即，首先，使用色谱上的目标化合物的峰的峰顶的时刻tp、峰起点的时刻ts及峰时间宽度Δt，通过P＝(tp-ts)/Δt计算系数P。将该系数P乘以从峰起点处的质谱减去峰终点处的质谱所得到的质谱。然后，将由此得到的质谱与峰起点ts处的质谱相加所得到的质谱视为背景谱，从原质谱减去该相加所得到的质谱。

另外，如专利文献2中公开的那样，还已知有以下的背景去除处理：从库中选出与目标化合物重叠的预想为异物的物质的质谱，将其从原质谱减去。

如上所述，以往，用于计算或估计应从原质谱减去的背景谱的算法有各种各样的算法。在具有背景去除处理功能的现有GC-MS(或LC-MS)用数据处理装置中，也存在进行如下处理的装置：在色谱上自动决定获得用于计算背景谱的数据的时间范围。然而，在这种自动处理中，由于实际上与原质谱重叠的背景谱同估计出的背景谱大不相同，因此减去背景谱后的质谱与目标化合物的实际质谱大为不同，往往无法利用库检索来适当地进行化合物鉴定。

例如，将在比目标化合物的峰起点靠前的规定时间范围内得到的多个质谱取平均来计算出背景谱的情况下，若在目标化合物的峰起点附近以高浓度洗脱出其它化合物，则与减去背景前相比，减去背景后的质谱在库检索中的谱相似度有时更低。