[发明专利]用于温度计的原位校准的设备和方法

权利要求书

1.一种用于确定和/或监测液体(5)的温度(2)的设备(1)，所述设备(1)：包括温度传感器(7)、用于温度传感器(7)的原位校准和/或验证的参考元件(8)、和电子单元(4)，

其中，所述参考元件(8)至少部分地由材料(10,15)构成，在所述材料(10,15)的情况下，在与校准所述温度传感器(7)相关的温度范围内，至少在第一预定相变温度(T_ph)下发生至少一个相变，在所述相变中，所述材料(10,15)保持固相，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为向所述参考元件和所述温度传感器(7)提供动态激励信号(U_dyn)，所述动态激励信号是相对于时间动态的激励信号并且是交流电流或交流电压。

2.根据权利要求1所述的设备(1)，

其特征在于

从所述参考元件(8)接收的所述动态激励信号(U_dyn)在每种情况下是正弦、矩形、三角形、锯齿形或脉冲形信号。

3.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述材料(10,15)是铁电材料、铁磁材料或超导材料。

4.根据权利要求3所述的设备(1)，

其特征在于

所述材料(10,15)是高温超导体。

5.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为改变所述激励信号(U_dyn)的频率和/或幅度。

6.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述参考元件(8)是具有电介质(10)的电容器元件，其中，所述电介质(10)至少部分地由所述材料构成，在所述材料的情况下，发生所述至少一个相变。

7.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述参考元件(8)是具有至少一个线圈(13)和导磁主体(15)的线圈装置，其中，所述主体(15)至少部分地由所述材料(15)构成，在所述材料(15)的情况下，发生所述至少一个相变。

8.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为：

确定所述参考元件(8)的至少一个部件的阻抗(Z)或依赖于所述阻抗(Z)的变量，并且

基于所述阻抗(Z)或依赖于所述阻抗(Z)的所述变量来检测所述相变的发生。

9.根据权利要求8所述的设备(1)，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为：

基于所述阻抗(Z)或依赖于所述阻抗(Z)的所述变量作为时间和/或温度的函数的曲线来检测所述相变的发生。

10.根据权利要求1或2所述的设备(1)，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为：

确定所述参考元件(8)的至少一个部件的损耗角(δ)或依赖于所述损耗角(δ)的变量，并且

基于所述损耗角(δ)或依赖于所述损耗角(δ)的所述变量来检测所述相变的发生。

11.根据权利要求10所述的设备(1)，

其特征在于

所述电子单元(4)被实施为：

基于所述损耗角(δ)或依赖于所述损耗角(δ)的所述变量作为时间和/或温度的函数的曲线来检测所述相变的发生。