[发明专利]缩放式射线照相重建有效

专利信息
申请号: 201780079793.2 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN110121300B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: D·舍费尔;P·G·范德哈尔;S·布鲁斯米什 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司;离子束应用股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;G01T1/29;G01N23/00;G06T11/00;A61N5/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 缩放 射线 照相 重建
【权利要求书】:

1.一种用于质子射线照相重建的装置(20),包括处理单元,所述处理单元被布置用于:

-获得(100)由质子探测器测量的采集数据,其中,所述采集数据包括第一部分(1)和第二部分(2),其中,所述第一部分(1)和所述第二部分(2)两者都至少覆盖探测器交叠区域(3、4),

-确定(101)指示针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第一部分(1)的测量线积分值的第一参考值,并且确定针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第二部分(2)的测量线积分值的第二参考值,

-基于所述第一参考值与所述第二参考值的比率来缩放(102)所述采集数据的所述第一部分(1)和所述第二部分(2)中的至少一个,并且

-使用所述缩放的结果来执行(103)重建。

2.根据权利要求1所述的用于质子射线照相重建的装置(20),还包括所述质子探测器。

3.根据权利要求2所述的用于质子射线照相重建的装置(20),其中,所述质子探测器被布置用于执行具有不同偏移的多个测量。

4.一种用于偏心探测器3D X射线重建的装置(20),包括处理单元,所述处理单元被布置用于:

-获得(100)由偏心X射线探测器测量的采集数据,其中,所述采集数据包括第一部分(1)和第二部分(2),其中,所述第一部分(1)和所述第二部分(2)两者都至少覆盖探测器交叠区域(3、4),

-确定(101)指示针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第一部分(1)的测量线积分值的第一参考值,并且确定针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第二部分(2)的测量线积分值的第二参考值,

-基于所述第一参考值与所述第二参考值的比率来缩放(102)所述采集数据的所述第一部分(1)和所述第二部分(2)中的至少一个,并且

-使用所述缩放的结果来执行(103)重建。

5.根据权利要求4所述的用于偏心探测器3D X射线重建的装置(20),还包括偏心3D X射线探测器。

6.一种用于质子射线照相重建的方法,包括以下步骤:

-获得(100)由质子探测器测量的采集数据,其中,所述采集数据包括第一部分(1)和第二部分(2),其中,所述第一部分(1)和所述第二部分(2)两者都至少覆盖探测器交叠区域(3、4),

-确定(101)指示针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第一部分(1)的测量线积分值的第一参考值,并且确定针对所述探测器交叠区域(3、4)中的所述第二部分(2)的测量线积分值的第二参考值,

-基于所述第一参考值和所述第二参考值来缩放(102)所述采集数据的所述第一部分(1)和所述第二部分(2)中的至少一个,并且

-使用所述缩放的结果来执行(103)重建。

7.根据权利要求6所述的用于质子射线照相重建的方法,其中,利用所述第一参考值与所述第二参考值的比率来缩放所述采集数据的仅所述第二部分(2)。

8.根据权利要求6所述的用于质子射线照相重建的方法,其中,利用所述第一参考值与基值的比率来缩放所述第一部分(1),并且利用所述基值与所述第二参考值的比率来缩放所述第二部分(2)。

9.根据权利要求6所述的用于质子射线照相重建的方法,其中,利用所述第一参考值与第一基值的比率来缩放所述第一部分(1),并且利用与所述第一基值相对应的第二基值与所述第二参考值的比率来缩放所述第二部分(2),其中,所述第一基值是通过第一弧的规划CT的前向投影来获得的,所述第二基值是针对第二弧的角度重新计算的。

10.根据权利要求6所述的用于质子射线照相重建的方法,其中,所述重建的所述执行(103)包括冗余度加权。

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