[发明专利]用于蛋识别系统的光控组件和相关联方法

权利要求书

1.一种用于确定禽蛋的存活能力的蛋识别系统，包括：

发射器组件，所述发射器组件被配置为朝向蛋发射电磁辐射，所述电磁辐射具有预定波长；

检测器组件，所述检测器组件与所述发射器组件间隔开，并且被配置为检测透射穿过所述蛋的电磁辐射；

光控组件，所述光控组件定位在所述发射器组件附近并且设置在所述发射器组件与所述检测器组件之间，所述光控组件包括吸收层，所述吸收层具有针对所述预定波长的内透射率，以便被配置为吸收超过大约90％的所述预定波长的所反射电磁辐射，所述吸收层限定开口，从所述发射器组件发射的电磁辐射能够通过所述开口朝向所述蛋穿过所述吸收层；以及

处理器，所述处理器被配置为处理所述检测器组件的输出信号以确定所述蛋的存活能力。

2.如权利要求1所述的蛋识别系统，其中所述光控组件还包括施加到所述吸收层的减反射涂层。

3.如权利要求1所述的蛋识别系统，还包括透射层，所述透射层被配置为使所述预定波长的电磁辐射从其透射穿过，所述透射层在所述开口处与所述吸收层可操作地接合，使得从所述发射器组件发射的电磁辐射透射穿过所述透射层。

4.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述透射层是在与所述发射器组件相反的一侧与所述吸收层可操作地接合，使得所述吸收层设置在所述发射器组件与所述透射层之间并且跨所述开口延伸。

5.如权利要求4所述的蛋识别系统，还包括用于将所述吸收层粘合到所述透射层的粘合剂，所述粘合剂被配置为与所述吸收层和所述透射层光学匹配，使得电磁辐射在这样形成的界面处透射

6.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述透射层呈插塞的形式，所述插塞被配置为装配在由所述吸收层限定的所述开口内。

7.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述透射层具有内透射率，以便被配置为使超过大约90％的所述预定波长的来自所述发射器组件的电磁辐射透射。

8.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述预定波长介于大约800nm与1000nm之间。

9.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述光控组件还包括施加到所述透射层的减反射涂层。

10.如权利要求3所述的蛋识别系统，其中所述吸收层和所述透射层由光学玻璃材料制成。

11.一种确定蛋的存活能力的方法，所述方法包括：

从发射器组件发射预定波长的电磁辐射，所述电磁辐射是通过由光控组件的吸收层限定的开口并且朝向蛋发射的，所述吸收层具有针对所述预定波长的内透射率，以便被配置为吸收超过大约90％的所述预定波长的所反射电磁辐射；

经由所述吸收层吸收从所述蛋和其他反射表面反射的电磁辐射；

用与所述发射器组件间隔开的所述检测器组件检测透射穿过所述蛋的电磁辐射；

从由所述检测器组件检测的所述电磁辐射生成输出信号；以及

处理所述输出信号以确定所述蛋的存活能力。

12.如权利要求11所述的方法，还包括使从所述蛋和其他反射表面反射的电磁辐射透射穿过与所述吸收层可操作地接合的透射层，使得所述所反射电磁辐射透射到所述吸收层并且被其吸收。

13.如权利要求12所述的方法，其中从发射器组件发射电磁辐射包括发射电磁辐射通过跨所述开口延伸的所述透射层。

14.如权利要求12所述的方法，其中所述电磁辐射在所述预定波长下以超过大约90％的比率透射穿过所述透射层。

15.如权利要求12所述的方法，其中从发射器组件发射预定波长的电磁辐射包括发射波长介于大约800nm与1000nm之间的电磁辐射。