[发明专利]用于选择菌落的系统和方法

说明书

提供了用于选择菌落位置的系统和方法。选择菌落位置可以包括：确定选择工具在培养板图像上的位置，确定培养板图像上的潜在误差源的位置，比较选择工具的位置与潜在误差源的位置，以及当选择工具的位置覆盖潜在误差源的位置时确定误差。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年11月4日递交的美国临时申请No.62/417942的优先权，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本发明涉及培养板分析，更具体地，涉及用于检查和分析培养板图像的软件。

背景技术

用于定位和选择微生物菌落的方法和系统是已知的。例如，已知使用质谱法(特别是MALDI-TOF-MS(基质辅助激光解吸和电离飞行时间质谱法))来识别微生物的方法和用于执行这些方法的相关系统。识别生物的方法例如，在Botma等人的WO2013/147610中描述了这种系统和方法，其公开内容通过引用并入本文。Botma等人教导了一种通过获得培养皿的初始图像来定位和选择微生物菌落的方法，由研究人员或分析人员在初始图像中手动选择微生物菌落。然后，系统从设备下方的位置捕获培养皿的第二图像，用于从培养皿中拣选微生物样品。然后，比较初始图像和第二图像以确定选择了哪个菌落。

发明内容

本发明的方面包括用于在培养板图像上选择菌落位置的系统、设备和方法。

一个实施例是用于在培养板图像上选择菌落位置的系统。该系统包括计算机系统。该计算机系统包括被配置为显示培养板图像和选择工具的用户界面以及处理器。处理器被配置为确定选择工具在培养板图像上的位置，确定培养板图像上的潜在误差源的位置，比较选择工具的位置与潜在误差源的位置；以及当选择工具的位置覆盖潜在误差源的位置时确定误差。

另一实施例是用于在培养板图像上选择菌落位置的方法。该方法包括确定选择工具在培养板图像上的位置，确定培养板图像上的潜在误差源的位置，比较选择工具的位置与潜在误差源的位置，以及在选择工具的位置覆盖潜在误差源的位置时确定误差。

附图说明

图1描绘了根据本发明的示意性实施例的菌落选择系统的示意图。

图2描绘了根据本发明的示意性实施例的选择菌落位置的实施例的流程图。

图3描绘了根据本发明的示意性实施例的分析选择工具的位置的实施例的流程图。

图4描绘了根据本发明的示意性实施例的分析选择工具的位置的实施例的流程图。

图5描绘了根据本发明的示意性实施例的分析选择工具的位置的实施例的流程图。

图6描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图7描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图8描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图9描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图10描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图11描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图12描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图13描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图14描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。

图15描绘了根据本发明的示意性实施例的位于培养板图像上方的选择工具。