[发明专利]用于预测直流电路中的故障的方法及设备

权利要求书

1.一种预测DC电路的寿命周期的方法，包括：

a) 对于DC电路，生成DC脉冲串（201, 202, 203, 204），所述DC电路被鉴定为具有其预期寿命；

b) 根据所生成的DC脉冲串（201, 202, 203, 204）的零交叉点处的振幅比失真、周期比波动及持续时间比变化特性，为DC电路建立基线；

c) 对于已在服务的DC电路，在零点交叉区域中监测并确定所生成的DC电路的振幅比失真、周期比波动及持续时间比变化特性；以及

d) 比较步骤(b)的基线与步骤(c)的振幅比失真、周期比波动及持续时间比变化特性以建立衰减率分析曲线，使得所述衰减率分析可用于建立预期寿命的终止并预测所检测的DC电路的故障的估计时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其使得所述DC电路为独立的或系统内的DC电路网络的部分。

3.根据权利要求1所述的方法，其中对于步骤(d)，所述衰减率分析曲线指示被分析的所述DC电路的降级率，以及故障之前的所述DC电路的预期寿命。

4.根据权利要求1所述的方法，其中从步骤(c)获得的数据可用于在所述DC电路完全故障后对所述DC电路进行故障排除。

5.一种适于实施根据权利要求1所述的方法的设备，其特征在于，

a) DC电源（101），如果需要，其用以生成所需要的电力；

b) 脉冲发生器（102），其用以生成脉冲串（201）；

c) 脉冲逆变器（103），其用以生成负脉冲串（202）；

d) 中央处理单元（104），连接所述脉冲串（201）和所述负脉冲串（202），用以生成特定于被检查的所述DC电路的交变脉冲串；

e)存储器模块（105），其用于存储离开所述DC电路（303）的交变脉冲串，直到所述交变脉冲串被发射回所述中央处理单元为止；

f) 用于确定比率及生成用以产生衰减率分析曲线的算法的装置，所述衰减率分析曲线用于建立被监测预期寿命的DC电路的预期寿命的终止。