[发明专利]对样本执行扩散加权磁共振测量的方法

权利要求书

1.一种对样本执行扩散加权磁共振测量的方法，所述方法包括：

对所述样本执行扩散加权磁共振测量，

其中，所述测量包括：

利用第一扩散编码序列的第一测量，所述第一扩散编码序列具有带有至少两个非零特征值的第一扩散加权张量表示B₁，

利用第二扩散编码序列的第二测量，所述第二扩散编码序列具有带有至少两个非零特征值的第二扩散加权张量表示B₂，

其中，所述第一扩散加权张量表示B₁和所述第二扩散加权张量表示B₂具有相同数量的非零特征值，所述第一扩散加权张量表示B₁的特征值匹配所述第二扩散加权张量表示B₂的特征值，并且

其中，所述第一扩散编码序列和所述第二扩散编码序列被配置为呈现匹配的平均频谱内容，并且呈现不同的频谱各向异性的程度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一扩散编码序列和所述第二扩散编码序列被配置成使得：

将具有与所述第一扩散编码序列的第一归一化散相向量表示相匹配的归一化散相向量表示并且具有非零扩散编码强度的第三扩散编码序列应用于由直径为5μm的球形隔室的集合构成的第一测试样本，以及

将具有与所述第二扩散编码序列的第二归一化散相向量表示相匹配的归一化散相向量表示并且具有所述非零扩散编码强度的第四扩散编码序列应用于所述第一测试样本，

由所述第三扩散编码序列产生的信号衰减将匹配由所述第四扩散编码序列产生的信号衰减；

并且使得：

将所述第三扩散编码序列应用于由具有均匀取向分散的直径为5μm的圆柱形隔室的集合构成的第二测试样本，并且

将所述第四扩散编码序列应用于所述第二测试样本，

由所述第三扩散编码序列产生的信号衰减将不同于由所述第四扩散编码序列产生的信号衰减。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述第一测量包括获取第一信号衰减，并且所述第二测量包括获取第二信号衰减。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量包括：

第一组测量，其包括所述第一测量和利用以相对于测量参照系的不同旋度施加到所述样本的所述第一扩散编码序列执行的多个附加测量，

第二组测量，其包括所述第二测量和利用以相对于所述测量参照系的不同旋度施加到所述样本的所述第二扩散编码序列执行的多个附加测量。

5.根据权利要求2所述的方法，其中，所述测量包括：

第一组测量，其包括所述第一测量和利用以相对于测量参照系的不同旋度施加到所述样本的所述第一扩散编码序列执行的多个附加测量，

第二组测量，其包括所述第二测量和利用以相对于所述测量参照系的不同旋度施加到所述样本的所述第二扩散编码序列执行的多个附加测量。

6.根据权利要求4所述的方法，其中：

所述第一组测量中的每个测量包括获取相应的信号衰减，并且所述方法包括基于所述相应的信号衰减确定第一平均信号衰减，并且

所述第二组测量中的每个测量包括获取相应的信号衰减，并且所述方法包括基于所述相应的信号衰减确定第二平均信号衰减。

7.根据权利要求5所述的方法，其中：

所述第一组测量中的每个测量包括获取相应的信号衰减，并且所述方法包括基于所述相应的信号衰减确定第一平均信号衰减，并且

所述第二组测量中的每个测量包括获取相应的信号衰减，并且所述方法包括基于所述相应的信号衰减确定第二平均信号衰减。

8.根据权利要求3所述的方法，还包括：生成指示所述第一信号衰减和所述第二信号衰减之间的差异的输出。

9.根据权利要求6所述的方法，还包括：生成指示所述第一平均信号衰减和所述第二平均信号衰减之间的差异的输出。