[发明专利]传输RFID测试系统

说明书

一种RFID测试系统，其在不存在RFID标签的情况下，在两个端口之间建立最小耦合，并且当存在RFID标签时建立更高的耦合。此外，在RFID标签存在下的这种受控耦合用于读取和识别标签。在RFID标签存在于耦合区时，因为它接收最大功率并且具有到接收器的最低损耗路径，所以RFID标签被读取。相邻标签不能有效耦合，因此它们与所需设备(即，RFID标签)隔离。此外，通过RFID标签的耦合可以是频率特定的，并且可以确定峰值频率。该峰值频率以及耦合量可以很好地指示标签组件的许多方面。

相关申请的交叉引用

本申请主张于2016年10月28日提交的美国发明专利申请号15/337,437的优先权和权益，其全部通过引用并入本文。

背景技术

本发明一般涉及射频识别(RFID)测试系统和设备。更具体地，本公开涉及一种RFID测试系统，其在不存在RFID标签的情况下在两个端口之间建立最小耦合，并且当存在RFID标签时建立更高的耦合。

射频识别(RFID)设备是众所周知的，并且越来越多地用于各种各样的应用中。然而，与RFID设备(例如，RFID标签、RFID标识(label)、RFID芯片、RFID带或RFID嵌体(inlay))相关联的一个挑战是以高容量和有成本效率的方式制造和测试RFID设备。

例如，在制造过程期间或之后，可以在彼此位于非常接近的位置(例如，间隔紧密的相邻RFID设备)时测试RFID设备。作为一个示例，RFID设备可以在公共载体网上制造，其中RFID设备(例如，RFID嵌体)使其天线安装在公共载体网上并且其集成电路安装到天线。

由于RFID设备的紧密接近，在测试期间可能难以与每个RFID设备建立双向通信。通常，RFID设备的天线可以被视为具有近场区域和远场区域。近场区域指代无功近场(reactive near field)和辐射近场(radiating near field)，而远场区域指代辐射远场分量。RFID设备的短程测试通常涉及在近场区域内进行测试(例如，利用近场或远场分量)，而远程测试通常涉及在远场区域内进行测试。

对于短程测试和远程测试，在测试RFID设备中的一个时，通常必须采取某些预防措施，以防止对于每个正在被测试的RFID设备，紧密接近的RFID设备响应或影响测试结果。这导致复杂的测试程序或测试设置，并且可能致使可操作的RFID设备被测试并且错误地被确定为有缺陷。结果，需要用于RFID设备的改进的测试技术。

本发明公开了一种RFID测试系统，其在不存在RFID标签的情况下在两个端口之间建立最小耦合，并且当存在RFID标签时建立更高的耦合。此外，在RFID标签存在下的这种受控耦合用于读取和识别标签。在RFID标签存在于耦合区时，因为它接收最大功率并且具有到接收器的最低损耗路径，所以RFID标签被读取。相邻标签不能有效耦合，因此它们与所需设备(即，RFID标签)隔离。此外，通过RFID标签的耦合可以是频率特定的，并且可以确定峰值频率。该峰值频率以及耦合量可以很好地指示标签组件的许多方面。

发明内容

以下呈现简化的发明内容，以便提供对所公开的创新的一些方面的基本理解。该发明内容不是广泛的概述，并且不旨在标识关键/重要元素或记述其范围。其唯一目的是以简化形式呈现一些概念，作为稍后呈现的更详细描述的序言。

在其一个方面，本文中所公开的和所要求保护的主题包含射频识别(RFID)测试系统，其在不存在RFID标签的情况下在两个端口之间建立最小耦合，并且当存在RFID标签时建立更高的耦合。具体地，RFID测试系统使用电或磁近场发射和接收元件(组件)，它们由于它们的几何关系而具有最小耦合。然后在标签存在时，RFID标签为信号提供路径。