[发明专利]成像器件有效
申请号: | 201780057053.9 | 申请日: | 2017-10-16 |
公开(公告)号: | CN109716755B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 河津直树;鸟居元展;本桥裕一;铃木敦史;蓟纯一郎 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367;H04N17/00 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 姚鹏;曹正建 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 器件 | ||
第一像素包括:第一传输晶体管、第一复位晶体管、第一放大晶体管和第一选择晶体管。所述第一传输晶体管的第一端子连接至参考信号生成电路。所述第一复位晶体管的第一端子连接至所述参考信号生成电路。所述第一放大晶体管的栅极连接至所述第一复位晶体管的第二端子和所述第一传输晶体管的第二端子。所述第一选择晶体管连接至所述第一放大晶体管。第二像素包括:第一光电转换元件;连接至所述第一光电转换元件的第二传输晶体管;被配置用于接收第一预定电压的第二复位晶体管;连接至所述第二传输晶体管和所述第二复位晶体管的第二放大晶体管;和连接至所述第二放大晶体管的第二选择晶体管。
技术领域
本技术涉及成像器件,更具体地,涉及能够检测自身故障的成像器件。
背景技术
在相关技术中,采用测试像素(test pixel)来检测图像传感器中的像素自身的故障,所述图像传感器具有通过以矩阵形状布置像素而形成的像素阵列单元。例如,提出了如下图像传感器:其中,通过将测试像素生成的测试电压输入至模拟/数字(A/D)转换器进行A/D转换器的测试 (例如,参加专利文献1),其中,A/D转换器将从像素阵列单元输出的图像信号转换成数字信号。在该图像传感器中,通过从布置在各行中的各测试像素生成不同的测试电压并且针对测试电压进行模拟/数字转换来进行A/D传感器的功能测试。
引用列表
专利文献
专利文献1:US 8,823,850
发明内容
技术问题
在上述的相关技术中,通过将经过模拟/数字转换的信号与测试电压进行比较,测试A/D转换器的线性等。为此,在测试期间检测到异常信号的情况下,难以确定到底是A/D转换器还是将控制信号传送至像素阵列单元的像素的信号线导致了故障,并且难以检测诸如信号线断开等故障。
本技术是在上述背景下进行的,并且期望能够检测在将控制信号发送至图像传感器的像素的信号线中的故障。
技术问题的解决方案
本技术被设计用于解决上述问题,并且本技术的第一方面是图像传感器,包括:第一像素,所述第一像素包括:第一传输晶体管,其中所述第一传输晶体管的第一端子连接至参考信号生成电路;第一复位晶体管,其中所述第一复位晶体管的第一端子连接至所述参考信号生成电路;第一放大晶体管,其中所述第一放大晶体管的栅极连接至所述第一复位晶体管的第二端子和所述第一传输晶体管的第二端子;和第一选择晶体管,所述第一选择晶体管连接至所述第一放大晶体管;以及第二像素,所述第二像素包括:第一光电转换元件;第二传输晶体管,所述第二传输晶体管连接至所述第一光电转换元件;第二复位晶体管,所述第二复位晶体管被构造用于接收第一预定电压;第二放大晶体管,所述第二放大晶体管连接至所述第二传输晶体管和所述第二复位晶体管;和第二选择晶体管,所述第二选择晶体管连接至所述第二放大晶体管。
此外,在第一方面中,测试电压生成器将在生成传输测试信号时被供给至测试信号生成器的测试电压从传输测试电压改变为与传输测试电压不同的电压。因此,能够在生成传输测试电压时改变测试电压。
此外,在第一方面中,故障检测器可以在传输测试信号具有与传输测试电压不同的电压的情况下检测出传输控制信号线的故障。因此,在传输测试信号和传输测试电压具有不同电压的情况下,能够检测出传输控制信号线中的故障。
此外,在第一方面中,故障检测器可以在复位测试信号具有与复位测试电压不同的电压的情况下检测出传输控制信号线的故障。因此,在复位测试信号和复位测试电压不同的情况下,能够检测出传输控制信号线中的故障。
此外,在第一方面中,故障检测器可以在复位测试信号具有与复位测试电压不同的电压的情况下检测出复位控制信号线的故障。因此,在复位测试信号和复位测试电压不同的情况下,能够检测出复位控制信号线中的故障。
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