[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号: | 201780056085.7 | 申请日: | 2017-09-14 |
| 公开(公告)号: | CN110612449B | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
| 发明(设计)人: | 安居晃启;吉田悟郎;村松由规;山崎功夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/04;G01N35/10 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;金成哲 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,具备:
试剂盘,其搭载有收纳了在试料的分析中使用的试剂的多个试剂容器;
反应盘,其配置有使上述试料与试剂反应的多个反应容器;
试料分注机构,其将分注喷嘴浸渍在收纳于试料容器的试料中进行抽吸,并向上述反应盘的上述反应容器排出上述试料,由此分注上述试料;
试剂分注机构,其将分注喷嘴浸渍在收纳于试剂容器的试剂中进行抽吸,并向上述反应盘的上述反应容器排出上述试剂,由此分注上述试剂;以及
反应测定部,其从上述反应容器的上述试料与上述试剂的反应液测定反应,
上述自动分析装置的特征在于,具备:
参数存储部,其将上述自动分析装置中的各种参数亦即按照使用上述自动分析装置的每个标高而最佳化后的多个参数与各标高对应起来进行存储;
标高信息获取部,其获取设置了上述自动分析装置的标高的信息;以及
参数设定部,其基于上述标高信息获取部所获取到的标高,读取存储于上述参数存储部的上述多个参数并对上述自动分析装置进行设定,
在设置了上述自动分析装置的标高在规格范围外的情况下,发出表示未反映上述多个参数的至少一个的设定的警报。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述标高信息获取部通过操作人员所进行的标高的输入、或者基于位置的自动获取的标高的计算,来获取上述标高的信息。
3.根据权利要求1或2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述参数存储部存储针对一个标高按照各种参数将一个值对应起来的参数表格。
4.根据权利要求1或2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述多个参数的至少一个包含构成上述自动分析装置的部件的更换周期的信息。
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