[发明专利]电子设备和用于监视模拟信号的方法

说明书

集成电路(IC)芯片包括用于监视由IC芯片内一个或多个混合信号核芯所生成的模拟信号集合、将模拟信号转换为数字信号、在片上存储器中存储数字信号、以及一旦请求提供数字信号至测试设备的片上模拟信号监视电路。模拟信号监视电路包括用于生成精确电压和/或电流的片上参考生成器，用于将所选择参考信号路由至模拟是数字转换器(ADC)用于校准目的以及用于将所选择模拟信号从混合信号核芯的一个路由至ADC用于数字化目的的开关网络。IC芯片进一步包括用于存储数字化模拟信号以后续由测试设备访问用于分析的片上存储器。IC芯片包括用于输出数字化模拟信号的数字模拟测试点(ATP)。

相关申请的交叉引用

本申请要求享有2016年8月30日在美国专利和商标局提交的非临时申请NO.15/251,861的优先权和权益，在此通过整体阐述而引用的方式出于所有可应用目的而将其全部内容并入本文。

技术领域

本公开的一些方面总体涉及集成电路(IC)的诊断和纠错，并且特别地涉及用于使用经校准的模数转换器原位或片上模拟信号诊断和纠错的设备和方法。

背景技术

集成电路(IC)芯片或管芯有时包括模拟或混合(模拟和数字)信号核芯的集合。例如，该IC芯片可以包括通用串行总线(USB)物理接口(USB PHY)核芯，个人部件互联特快(PCIe)物理接口(PCIe PHY)核芯，以及通用闪存(UFS)物理接口(UFS PHY)核芯。这些核芯中的每个核芯可以生成为了测试、纠错、优化、电路健壮性、运算验证、和/或其他目的而需要被监视的一个或多个模拟信号的集合。

发明内容

以下展示了一个或多个实施例的简化概要以便于提供这些实施例的基础理解。该概要并非所有设想的实施例的广泛概述，并且有意设计为既未识别所有实施例的关键或重要要素也未描绘任意或所有实施例的范围。其单纯目的在于以简化形式展示一个或多个实施例的一些概念作为稍后所展示的更详细说明书的前导。

本公开的方面涉及一种包括集成电路(IC)的设备。IC包括被配置为生成一个或多个模拟信号的第一集合的第一核芯；被配置为生成一个或多个参考信号的集合的参考生成器；被配置为基于一个或多个模拟信号的第一集合中的所选择模拟信号而生成数字信号的模数转换器(ADC)；以及被配置为选择性将一个或多个参考信号的集合的所选择一个路由至ADC以用于校准ADC、以及将一个或多个模拟信号的第一集合的所选择一个选择性地路由至ADC用以生成数字信号的开关网络。

本公开的另一方面涉及一种监视模拟信号的方法。方法包括在集成电路(IC)芯片的第一核芯内生成模拟信号；在IC芯片的第二核芯内生成参考信号；以及基于模拟信号和参考信号在IC芯片内生成数字信号。

本公开的另一方面涉及一种设备，包括用于在集成电路(IC)芯片的第一核芯内生成模拟信号的装置，用于在IC芯片的第二核芯内生成参考信号的装置，以及用于基于模拟信号和参考信号在IC芯片内生成数字信号的装置。

为了完成前述和相关方面，一个或多个实施例包括下文全面描述并特别地在权利要求书中指出的特征。以下说明书和附图详细阐述了一个或多个实施例的某些示意性方面。然而，这些方面指示了其中可以利用各个实施例原理的各种方式的少数几个，并且说明书实施例有意设计为包括所有这些方面和它们的等价形式。

附图说明

图1示出了描绘了根据本公开一个方面的示例性测试系统的图。

图2A示出了根据本公开的另一方面的包括片上模拟信号监视信号的示例性IC的框图。

图2B示出了根据本公开另一方面的另一示例性IC的框图。

图2C示出了根据本公开另一方面的又一示例性IC的框图。

图3示出了根据本公开另一方面的另一示例性片上模拟信号监视电路的示意图。