[发明专利]红外线检测装置有效

专利信息
申请号: 201780037247.2 申请日: 2017-06-08
公开(公告)号: CN109328295B 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 大嶽知则 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02;H01L37/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李国华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 红外线 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种红外线检测装置,具备红外线检测元件的结构,所述红外线检测元件具备:

热释电体;

第一受光电极,其形成于所述热释电体的表面,且接受来自第一区域的红外线;

第二受光电极,其形成于所述热释电体的表面,且接受来自第二区域的红外线;以及

受光灵敏度调整构件,其使红外线的受光灵敏度在所述第一受光电极与所述第二受光电极不同,

所述红外线检测装置具备:

第一要素,其具有所述第一受光电极和所述热释电体;

第二要素,其具有所述第二受光电极和所述热释电体;

连接部,其将所述第一要素与所述第二要素连接;以及

阻抗转换元件,其经由所述连接部,根据所述第一要素和所述第二要素的电荷而生成检测信号,

在所述第一区域和所述第二区域,从所述阻抗转换元件输出的所述检测信号的大小不同。

2.根据权利要求1所述的红外线检测装置,其中,

所述受光灵敏度调整构件是仅配置于所述第一受光电极的表面的红外线吸收膜。

3.根据权利要求1所述的红外线检测装置,其中,

所述受光灵敏度调整构件是配置于所述第一受光电极的表面的第一红外线吸收膜以及配置于所述第二受光电极的表面的第二红外线吸收膜,

所述第一红外线吸收膜的红外线吸收率高于所述第二红外线吸收膜的红外线吸收率。

4.根据权利要求3所述的红外线检测装置,其中,

所述第一红外线吸收膜相对于所述第一受光电极的表面的被覆率高于所述第二红外线吸收膜相对于所述第二受光电极的表面的被覆率。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的红外线检测装置,其中,

所述第一受光电极的红外线吸收率高于所述第二受光电极的红外线吸收率。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的红外线检测装置,其中,

所述热释电体的极化度在所述第一受光电极形成于表面的第一区域与所述第二受光电极形成于表面的第二区域不同,

所述第一区域的极化度高于所述第二区域的极化度。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的红外线检测装置,其中,

所述热释电体的厚度在所述第一受光电极形成于表面的第一区域与所述第二受光电极形成于表面的第二区域不同,

所述第一区域的所述热释电体的厚度小于所述第二区域的所述热释电体的厚度。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的红外线检测装置,其中,

所述红外线检测装置还具备:判定部,其通过所述检测信号来进行红外线的检测的判定。

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