[发明专利]荧光测定装置的校正用基准体在审
申请号: | 201780030146.2 | 申请日: | 2017-02-23 |
公开(公告)号: | CN109154570A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 长谷川宽;中村隆之;石上喜浩;近藤房宣 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过部 收纳空间 波长区域 激发光 荧光 光量 收纳 基准体 荧光体 出射 入射 照射 荧光测定装置 遮光部 支撑体 相等 校正 配置 | ||
基准体(1)包括:支撑体(10),其设置有第1光通过部(18)及第2光通过部(19)、以及第1收纳空间(14)及第2收纳空间(15);第1荧光体(20),其收纳于第1收纳空间(14),在第1波长区域的第1激发光经由第1光通过部(18)被照射时发出第2波长区域的第1荧光;第2荧光体(30),其收纳于第2收纳空间(15),在第1波长区域的第2激发光经由第2光通过部(19)被照射时发出第2波长区域的第2荧光;以及遮光部(13),其配置于第1收纳空间(14)与第2收纳空间(15)之间。在入射至第1光通过部(18)的第1激发光的光量与入射至第2光通过部(19)的第2激发光的光量相互相等的情况下,自第1光通过部(18)出射的第1荧光的光量与自第2光通过部(19)出射的第2荧光的光量互不相同。
技术领域
本发明涉及一种荧光测定装置的校正用基准体。
背景技术
作为血液检查等检体检查的方法,已知有免疫层析试验(Immunochromatographyassay)(侧流免疫试验(Lateral flow immune assay)),近来,在包含难以进行目测判定的低显色区域的定量诊断中,使用利用荧光标记的方法。例如,在专利文献1中,公开有一种关于使用荧光标记的免疫层析试验的技术。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2006-208386号公报
发明内容
发明所要解决的问题
在如上所述的使用荧光标记的方法中使用荧光测定装置,为了获得可靠性较高的检查结果,需要以一定的测定灵敏度进行利用荧光测定装置的荧光测定。由于这样的理由,需要用以进行荧光测定装置的校正(例如,机座差的确认、测定灵敏度的调整、故障诊断等)的基准体。
本发明鉴于上述问题而完成,其目的在于,提供一种能够在宽的动态范围内稳定地进行荧光测定装置的测定灵敏度的确认的荧光测定装置的校正用基准体。
解决问题的技术手段
本发明的一个方面涉及一种荧光测定装置的校正用基准体,其包括:支撑体,其设置有第1光通过部及第2光通过部、以及与第1光通过部相对的第1收纳空间及与第2光通过部相对的第2收纳空间;第1荧光体,其收纳于第1收纳空间,在第1波长区域的第1激发光经由第1光通过部被照射时发出第2波长区域的第1荧光;第2荧光体,其收纳于第2收纳空间,在第1波长区域的第2激发光经由第2光通过部被照射时发出第2波长区域的第2荧光;以及遮光部,其配置于第1收纳空间与第2收纳空间之间。该基准体中,在入射至第1光通过部的第1激发光的光量与入射至第2光通过部的第2激发光的光量相互相等的情况下,自第1光通过部出射的第1荧光的光量与自第2光通过部出射的第2荧光的光量互不相同。
在该基准体中,通过配置于第1收纳空间与第2收纳空间之间的遮光部,能够抑制一方的荧光体中的激发光及荧光对另一方的荧光体中的激发光及荧光造成影响,以及由于当入射至第1光通过部的第1激发光的光量与入射至第2光通过部的第2激发光的光量相互相等的情况下,自第1光通过部出射的第1荧光的光量与自第2光通过部出射的第2荧光的光量互不相同,因而通过一次测定能够稳定地在宽的动态范围内进行测定灵敏度的确认。
在一个方式中,支撑体也可具有:第1保持部,其保持收纳于第1收纳空间的第1荧光体;以及第2保持部,其保持收纳于第2收纳空间的第2荧光体。通过在第1收纳空间内保持第1荧光体且在第2收纳空间内保持第2荧光体,而抑制测定值的偏差。由此,能够提高校正的精度。
在一个方式中,第1保持部可为划定第1收纳空间的第1壁部,第2保持部可为划定第2收纳空间的第2壁部。该第1壁部及第2壁部的至少一者也可构成遮光部。在该情况下,能够可靠地利用遮光部进行遮光,因而测定值的偏差被抑制。由此,能够提高校正的精度。
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