[发明专利]干扰离子迁移质谱法和测量选定离子的离子迁移率的方法

权利要求书

1.一种干扰离子迁移率质谱仪的方法，用于分析离子群，所述方法包括：

将包含多个离子的连续气相离子束引导到配置在离子迁移谱仪内的漂移管的入口中；

在干扰时间范围内干扰所述连续气相离子束的流动，以引起所述连续气相离子束的一个或多个配置的干扰；

将所述漂移管配置为允许一个或多个干扰由于所述多个离子的迁移率的差异而分离；

在质谱仪的入口处接收所述多个离子和所述一个或多个干扰；

记录指示所述质谱仪接收的所述多个离子的原始数据，所述原始数据包括：所述多个离子的每种类型的质荷比、由所述一个或多个干扰引起的所述多个离子的每种类型的强度变化和所述一个或多个干扰的到达时间；以及

重建所述原始数据以获得时域中的所述多个离子的一个或多个质荷，以及一个或多个离子迁移谱。

2.根据权利要求1所述的方法，所述重建步骤包括：

从所述原始数据中减去所述多个离子中每个离子的平均响应的强度。

3.根据权利要求1所述的方法，所述重建步骤包括：

转换所述原始数据；

对转换后的原始数据的频域进行低通滤波；

获得所述频域的去噪频谱；以及

反相所述去噪频谱以获得规则的离子迁移谱。

4.根据权利要求3所述的方法，所述重建步骤能够使信噪比在1.1增加到1000000倍的范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，所述干扰步骤包括从大约5μs到10ms的干扰时间范围和25ms到250ms的恒定间隔。

6.根据权利要求5所述的方法，所述干扰时间范围为从144μs到约1200μs。

7.根据权利要求5所述的方法，所述干扰时间提供至少99％的占空比。

8.根据权利要求5所述的方法，所述干扰时间范围还能够使灵敏度从100倍增加到约14000倍。

9.根据权利要求1所述的方法，所述质谱仪是选自以下仪器中的至少一个质量分析仪：四极质量分析仪、二维离子阱、三维离子阱、飞行时间(TOF)分析仪、轨道阱和FT-ICR分析仪。

10.根据权利要求1所述的方法，所述漂移管被配置成在以下条件中的至少一个条件下操作：环境条件和真空压力条件。

11.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括与选自以下仪器中的至少一个仪器耦接：超高效液相色谱仪、高效液相色谱仪、气相色谱仪、超临界流体色谱仪、毛细管电泳仪。

12.一种干扰离子迁移率质谱仪装置，用于分析离子群，所述装置包括：

漂移管，所述漂移管被配置为离子迁移谱仪的一部分，其中所述漂移管还被配置成接收包含多个离子的连续气相离子束；

离子门，所述离子门被配置成在所述漂移管内引起所述连续气相离子束的流动的一个或多个干扰，其中所述漂移管还被配置成允许所述一个或多个干扰由于所述多个离子的迁移率的差异而分离；

质谱仪，所述质谱仪被配置成接收所述多个离子的至少一部分和所述一个或多个干扰；以及

一个或多个传感器和一个或多个电子设备，所述一个或多个传感器和一个或多个电子设备用于记录指示所述质谱仪接收的所述多个离子的原始数据，所述原始数据包括：所述多个离子的每种类型的质荷比、由所述一个或多个干扰引起的时域中的所述多个离子的每种类型的强度变化和所述一个或多个干扰的到达时间。

13.根据权利要求12所述的装置，所述质谱仪是选自以下仪器中的至少一个质量分析仪：四极质量分析仪、二维离子阱、三维离子阱、飞行时间(TOF)、轨道阱和FT-ICR分析仪。