[发明专利]数据导向的DESI-MS成像

说明书

公开了一种分析样品的方法，其包括：通过将带电液滴的喷雾引导到样品上来以第一操作模式测量样本，确定所述样本中的一个或多个关注区域，以及通过将带电液滴的喷雾引导到样品上而以第二不同的操作模式分析所述一个或多个关注区域。所述带电液滴的喷雾在与所述样本的撞击点处的斑点尺寸可以变化。

相关申请的交叉引用

本申请要求在2016年6月3日提交的英国专利申请号1609747.9的优先权和权益，该申请的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本发明整体涉及质谱仪，并且特别地涉及使用质谱仪对样本成像的方法。

背景技术

在质谱成像中，通过分析从样本的多个空间分离区域产生的离子来可视化该样本成分的空间分布。

样本的质谱成像会非常耗时。例如，对沉积在典型载玻片上的样本进行分析需要数小时甚至数天。

美国专利No.7,655,476(Bui)公开了一种用于缩短质谱成像的分析时间的方法。执行初始组织成像扫描以获得相对低分辨率的质谱图像(即，相邻目标区域之间具有相对大的平均间隔)，以便识别组织样本内的关注区域，并且随后在减小目标区域间隔的条件下扫描关注区域以获得关注区域的高分辨率质谱成像。美国专利No.7,655,476(Bui)中描述的技术基于的是基质辅助激光解吸电离(“MALDI”)。

尽管该技术减少了样本的总体分析时间，但它也会降低整个分析的质量。特别地，初始低分辨率成像扫描可能遗漏了关注的样本区域，然后在随后的扫描中不会对其进行分析，因此将根本不进行分析。

此外，使用基质辅助激光解吸电离(“MALDI”)技术需要耗时的基质沉积样本制备步骤。该步骤可以引起实验中的可变性，原因在于基质可以在样本之中和样本之间变化，并且在实验的时间尺度上可能是不稳定的。

期望提供一种改进的质谱成像的方法。

发明内容

根据一方面，提供了一种分析样本的方法，其包括：

(i)通过将带电液滴的喷雾引导到样本上来以第一操作模式测量样本；

(ii)确定所述样本中的一个或多个关注区域；和

(iii)通过将带电液滴的喷雾引导到所述样本上而以第二不同操作模式来分析所述一个或多个关注区域。

本文描述的各种实施例涉及分析样本的方法，其中首先以第一操作模式来测量样本，确定样本中的一个或多个关注区域，然后以第二不同的操作模式来分析一个或多个关注区域。因此，通过在“全谱扫描”中识别一个或多个关注区域并然后在随后的扫描中分析所识别的区域可以缩短对样本的总体分析时间。

然而，与美国专利No.7,655,476(Bui)中公开的方法相反，样本是通过将带电液滴的喷雾引导到样本上而被分析的，例如使用解吸电喷雾电离(“DESI”)。本申请人发现，与美国专利No.7,655,476(Bui)中描述的基质辅助激光解吸电离(“MALDI”)技术相比，这具有许多益处。

特别是，可以大大减少在全谱扫描中遗漏关注的样本区域的可能性，从而可以大大提高整体分析的质量。

这是因为MALDI采样事件显着改变了样本的表面，这是因为在激光点区域内消耗基质晶体。然后不能再次对已采样区域进行采样(例如，不从质谱仪中取出样本，不用基质重新涂覆样本等)。