[发明专利]通过校正进行的无损检测方法

权利要求书

1.一种航空部件(10)的无损检测方法，包括通过数字断层扫描获得体积(V)的预备步骤E1，其中，存在对所述航空部件(10)的表示，所述体积(V)由体素(Vx)限定，其特征在于，所述方法包括校正处理E2，所述校正处理包括以下步骤：

E21，断层扫描表示的处理，所述处理包括从所述体积中提取仅与所述航空部件相关的所述体素；

E22，根据与所述航空部件相关的所述提取的体素生成所述断层扫描体积内部的所述航空部件(10)的中间表面(SM)，所述中间表面(SM)将所述航空部件(10)分成两部分，所述中间表面(SM)表示在横向正交平面中与所述航空部件的两端等距的表面；

E23，确定垂直于所述中间表面(SM)的法向量(N)的场；

E24，使所述中间表面(SM)平坦化以在平面(P)中形成平坦化的中间表面(SMa)；

E25，重建校正过的体积(Vr)，所述校正过的体积(Vr)包含围绕平坦化的中间表面(SMa)校正过的所述航空部件(10)，所述重建通过校正过的体积(Vr)的体素(Vx')和体积(V)的体素(Vx)之间的映射来执行，其中，所述校正过的体积(Vr)的体素(Vx')沿着与所述平坦化的中间表面(SMa)正交的方向，所述体积(V)的体素(Vx)沿中间表面(SM)的法向量(N)，所述中间表面(SM)的法向量(N)与相应的正交方向相关联，所述映射表示所述体积(V)的体素(Vx)的灰度值以体素(Vx')的值实现；

所述处理还包括对产生的校正过的体积的分析步骤E3以识别所述航空部件的异常。

2.根据权利要求1所述的无损检测方法，其中，用于生成所述中间表面(SM)的所述步骤E22之后是用于消除一些不规则性的低通滤波步骤Ef。

3.根据权利要求1或2所述的无损检测方法，其中，所述平坦化步骤E24通过所述中间表面在所述平面(P)上的投影来进行。

4.根据权利要求3所述的无损检测方法，其中，选择所述平坦化步骤E24的所述平面以使所述投影的距离最小化。

5.根据权利要求1或2所述的无损检测方法，其中，所述校正过的体积(Vr)的体素(Vx')的特征在于所述体素的通过正交投影距离所述平坦化的中间表面(SMa)的点(A')的距离，即所谓的正交距离，其中，所述中间表面(SM)的点(A)对应于所述平坦化的中间表面(SMa)的点(A')，并且恢复所述体积(V)的体素(Vx)的值，所述体积(V)的体素(Vx)位于沿通过所述点(A)的所述法向量(N)所定义的方向的距离(h)处，所述距离(h)是所谓的正交距离(h')的函数。

6.根据权利要求5所述的无损检测方法，其中，连接所述距离(h)和所述正交距离(h')的函数是线性函数。

7.根据前述权利要求6所述的无损检测方法，其中，连接所述距离(h)和所述正交距离(h')的函数是恒等式。

8.根据权利要求1或2所述的无损检测方法，其中，没有使用对所述航空部件(10)的计算机建模。

9.一种包括数据处理装置(110)和存储器(120)的计算单元(100)，配置为执行如权利要求1至8中任一项所述的无损检测方法。