[发明专利]用于光线追踪架构的采样模式生成的方法和装置在审
申请号: | 201780015016.1 | 申请日: | 2017-03-08 |
公开(公告)号: | CN108780585A | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | D·R·鲍德温 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06T15/06 | 分类号: | G06T15/06;G06T1/20;G06T1/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张欣;黄嵩泉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采样模式 光线追踪 生成电路 光线流 样本 架构 随机性 图形处理装置 方法和装置 样本模式 可重复 图像块 像素 | ||
1.一种图形处理装置,包括:
光线生成电路,用于从一个或多个图像块生成光线流;以及
样本模式生成电路,用于针对所述光线流中的光线生成样本,生成的所述样本在给定帧的各像素之间呈现至少一些随机性,但在多个帧之间是可重复的。
2.如权利要求1所述的图形处理装置,进一步包括:
样本模式索引,可由所述样本模式生成电路用于标识存储在存储器中的特定样本模式。
3.如权利要求2所述的图形处理装置,其特征在于,标识特定样本模式包括检取存储在所述存储器中的样本表的地址。
4.如权利要求3所述的图形处理装置,进一步包括:
样本集索引,用于从所述样本表中标识特定的一组样本。
5.如权利要求4所述的图形处理装置,其特征在于,所述样本表包括层级结构布置,所述层级结构布置包括N个层,其中每个层包括M个集群,每个集群包括O个样本。
6.如权利要求5所述的图形处理装置,其特征在于,通过从所述层中的每一个层的一个特定集群读取所有样本来形成样本模式。
7.如权利要求6所述的图形处理装置,其特征在于,所述样本表包括8个层,每个层具有8个集群,并且每个集群4个样本。
8.如权利要求4所述的图形处理装置,其特征在于,所述特定样本模式将基于以下各项中的一项或多项来选择:每个光源的不同形状、不同材料的不同双向反射分布函数(BRDF)、以及针对环境遮蔽的余弦加权半球采样模式。
9.如权利要求1所述的图形处理装置,进一步包括:
交叉电路,用于执行每条光线针对一个或多个基元的交叉测试,以生成交叉结果。
10.如权利要求9所述的图形处理装置,进一步包括:
多个着色器,用于被分派成对所述交叉结果执行着色操作。
11.一种系统,包括:
存储器,用于存储数据和程序代码;
中央处理单元(CPU),包括用于高速缓存所述程序代码的一部分的指令高速缓存,和用于高速缓存所述数据的一部分的数据高速缓存,所述CPU进一步包括执行逻辑,用于执行所述程序代码中的至少一些,并响应地处理所述数据中的至少一些,所述程序代码中的至少一部分包括图形命令;
图形处理子系统,用于处理所述图形命令并响应地渲染多个图像帧,所述图形处理子系统包括:
光线生成电路,用于从一个或多个图像块生成光线流;以及
样本模式生成电路,用于针对所述光线流中的光线生成样本,生成的所述样本在给定帧的各像素之间呈现至少一些随机性,但在多个帧之间是可重复的。
12.如权利要求11所述的系统,进一步包括:
样本模式索引,可由所述样本模式生成电路用于标识存储在存储器中的特定样本模式。
13.如权利要求12所述的系统,其特征在于,标识特定样本模式包括检取存储在所述存储器中的样本表的地址。
14.如权利要求13所述的系统,进一步包括:
样本集索引,用于从所述样本表中标识特定的一组样本。
15.如权利要求14所述的系统,其特征在于,所述样本表包括层级结构布置,所述层级结构布置包括N个层,其中每个层包括M个集群,每个集群包括O个样本。
16.如权利要求15所述的系统,其特征在于,通过从所述层中的每一个层的一个特定集群读取所有样本来形成样本模式。
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