[发明专利]X光图像显示设备和X光图像显示方法有效
申请号: | 201780003187.2 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN108463170B | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 崔盛壹 | 申请(专利权)人: | 韩国威泰有限公司;以友技术有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 曲莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 显示 设备 方法 | ||
本发明公开了一种具有改良的深度分辨率的X光图像显示设备,该显示设备包括:存储器,其存储关于受检者的多个X光帧数据;图像处理器,其使用由所述多个X光帧数据的至少一部分组成的第一组X光帧数据重建第一X光图像,并使用由所述多个X光帧数据的至少一部分组成的第二组X光帧数据重建第二X光图像;显示器,其配置为提供屏幕;以及查看器模块,其在所述屏幕上显示背景图像显示部分和布置在该背景图像显示部分的一部分处的局部图像显示部分,在所述背景图像显示部分上显示所述第一X光图像,并在所述局部图像显示部分上显示所述第二X光图像的与所述第一X光图像对应的部分。
技术领域
本发明总体涉及X光图像显示设备和X光图像显示方法。更具体地说,本发明涉及一种通过处理X光图像数据而在屏幕上显示第一和第二X光图像的设备和方法。
背景技术
在医疗领域中,X光设备指将预定量的X光发射到待成像的身体部位、利用X光传感器检测透射的X光、并基于检测到的电信号构建X光图像的装置。根据行进路径上的材料,X光在透射时以不同的衰减率衰减,并且当其到达X光传感器时通过光电效应被转换为电信号。X光设备利用带有反映在X光图像中的沿X光路径的累积衰减量的电信号,从而以X光图像的形式提供受检者内部的信息。
计算机断层摄影(CT)图像通过在发射X光的X光发生器和接收X光的X光传感器围绕受检者旋转的同时重建按不同角度拍摄的X光图像数据来提供受检者的三维X光图像。
通过利用所谓的移位和叠加法叠加按受检者的牙弓的断面拍摄的多个X光图像数据,沿着作为牙弓中的任意断层图像的图像层显示全景X光图像,这是一种断层摄影技术。全景X光图像尤其广泛应用在牙科领域中。
常规的全景X光图像的问题在于,当成像设备的聚焦区域(即,由成像设备的成像轨迹确定的参考图像层(预定图像层))不在受检者的实际牙弓轨迹上(即,牙弓内的关注区域)时,该部分的图像会不清楚。
为了解决这个问题,业界已公开了一种技术,该技术利用通过一个成像序列获得的多个X光图像数据来重建多个图像层的全景X光图像(参见韩国专利号10-0917679),还公开了另一种技术,该技术通过比较按断面拍摄的多个图像层的全景X光图像来选择并组合最接近牙弓轨迹的最清晰的全景X光图像,从而提供在全景X光图像的整个断面上接近于牙弓轨迹的全景X光图像(参见韩国专利号10-1094180)。还公开了另一种技术,其中在将沿着图像层重建的图像的尺寸或用于重建的图像的尺寸缩放为与参考图像的尺寸相等之后,在缩放图像中选择清晰地示出预定关注区域的图像的整体或一部分,将缩放图像分割为多个块,并从分割出的块图像中选择清晰的图像,然后利用选择的图像来提供全景X光图像(参见韩国专利号为10-1389841);此外还公开了另一种技术,其中在存储有多个图像层的图像数据的状态下,从多个图像层确定参考图像层,并在另一个图像层中找到与在参考图像层中指定的至少一个块对应的块,在通过比较相应块的图像数据来选择最清晰的图像之后,当所选块不是在参考图像层中指定的块时,通过将参考图像层的指定块替换为另一个图像层的选定块来重建并显示参考图像层(参见韩国专利号10-1664166)。
由于断层摄影技术的特点,全景X光图像具有深度分辨率,即,随X光照射方向而定的深度方向上的空间分辨率。在此,全景X光图像的深度分辨率与随X光照射方向而定的图像层的深度(即,图像层的厚度)成反比。但是,与计算机断层摄影相比,常规的全景X光图像在深度分辨率方面不足。例如,在全景X光图像的当前水平上,难以从一个磨牙中的单个图像中区分出内侧牙根和外侧牙根之间的深度差异。因此,在全景X光图像中可能发现不了某些疾病(例如牙周炎),这取决于它们发生的位置。
头部测量X光图像是头部的二维X光图像,其分为两种方法:一次拍摄法,它利用透过整个成像区域的单向X光的图像数据重建成像区域的二维X光图像;以及扫描法,它利用通过沿宽度方向扫描透过成像区域的一部分的X光获得的多个X光图像数据重建成像区域的二维X光图像。头部测量X光图像主要用于牙科或耳鼻喉科领域,并根据成像方向分类为LAT(侧位)、AP(前后位)、PA(后前位)、SMV(颅底颏顶位)和W/V(瓦氏位)。
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