[发明专利]模拟读取电路及影像传感模块

说明书

本申请提供了一种模拟读取电路，耦接于像素电路的像素输出端，所述模拟读取电路包括放大器以及感测多重采样单元；其中，于选择区间中，所述感测多重采样单元于多个感测采样时间分别对所述像素输出端的像素值进行多次感测采样操作，产生多个感测采样结果；其中，于输出区间中，所述感测多重采样单元对所述多个采样结果进行感测平均操作，所述放大器输出读取结果，所述读取结果相关于所述多个感测采样结果的感测平均。

技术领域

本申请涉及一种模拟读取电路及影像传感模块，尤其涉及一种可提升信噪比并降低电路面积及功耗的模拟读取电路及影像传感模块。

背景技术

相关多重采样(Correlated Multiple Sampling，CMS)技术具有提升信噪比的优点，其已应用于影像传感模块中的列模数转换器(Column Analog-to-Digital Converter，Column ADC)中，其中列模数转换器仅需对像素阵列中某一像素列的多个模拟像素值进行模数转换。现有技术中，采用相关多重采样的模数转换器是于数字域(Digital Domain)中进行，其需要较高的采样率(Sampling Rate)。也因采用相关多重采样的模数转换器对采样率的需求较高，因此不适合应用在需要对像素阵列中所有模拟像素值进行模数转换的全局模数转换器(Global ADC)。

然而，相较于全局模数转换器，列模数转换器具有占用较大电路面积及功耗大的缺点。除此之外，对应不同像素列的不同模数转换器可能亦存在有不匹配(Mismatch)的问题，其中模数转换器不匹配即为不同模数转换器将同一模拟值转换成为不同数字值。

因此，现有技术实有改进的必要。

发明内容

因此，本申请部分实施例的目的即在于提供一种可于模拟域(Analog Domain)中执行相关多重采样的模拟读取电路及影像传感模块，以改善现有技术的缺点。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种模拟读取电路，耦接于像素电路与模数转换器之间，所述像素电路包括传输闸、重置晶体管、选择闸及像素输出端，所述模拟读取电路包括放大器，包括第一输入端以及第一输出端，其中所述第一输出端用来输出所述模拟读取电路的读取结果至所述模数转换器；以及感测多重采样单元，耦接于像素输出端、所述第一输入端以及所述第一输出端，包括多个感测采样平均单元，所述多个感测采样平均单元包括多个感测电容；其中，于选择区间中，所述感测多重采样单元于多个感测采样时间分别对所述像素输出端的像素值进行多次感测采样操作，产生多个感测采样结果；其中，于输出区间中，所述感测多重采样单元对所述多个采样结果进行感测平均操作，所述放大器输出所述读取结果，所述读取结果相关于所述多个感测采样结果的感测平均。

例如，于所述选择区间中多个感测采样时间的第一感测采样时间，所述多个感测采样平均单元中的第一感测采样平均单元进行一次感测采样操作，于对应于所述第一感测采样操作的第一感测采样区间中，对应于所述第一感测采样平均单元的第一感测电容与所述像素输出端之间的连结为导通，其余感测采样平均单元的感测电容与所述像素输出端之间的连结为断路。

例如，所述多个感测电容具有多个第一端以及多个第二端，于所述输出区间中，所述多个感测电容的所述多个第一端彼此之间的连结为导通，所述多个感测电容的所述多个第二端彼此之间的连结为导通，以进行所述感测平均操作。

例如，于所述输出区间中，所述多个感测电容与所述第一输入端之间的连结为导通，所述多个感测电容与所述第一输出端之间的连结为导通，所述放大器输出所述读取结果。

例如，所述多个感测采样平均单元中的第一感测采样平均单元包括第一采样开关，耦接于所述第一感测采样平均单元的第一感测电容的第一端与所述像素输出端之间；第一平均开关，耦接于所述第一感测电容：以及第二平均开关，耦接于所述第一感测电容与所述第一输入端之间。

例如，所述第一平均开关耦接于所述第一感测电容与另一感测电容之间。