[实用新型]一种元器件测试装置中的探针组

说明书

本实用新型公开了一种元器件测试装置中的探针组，包括底座，底座上端两侧安装有支撑架，支撑架顶端安装有顶板，顶板中部安装有第一螺杆，第一螺杆上端安装有第一旋转板，第一螺杆下端安装有升降板，升降板下端通过螺栓连接有上探针座，底座上端中部安装有工作台，底座两端上部安装有限位架，限位架中部安装有第二螺杆，第二螺杆外侧安装有第二旋转板，第二螺杆内侧安装有下探针座，支撑架下端外侧安装有探针槽，探针槽电性连接有元器件插槽。本实用新型，实现着对元器件的高效测量，同时通过设有的元器件插槽实现着与不同类型的元器件的对接，避免直接更换下探针座，操作简单，可靠性高。

技术领域

本实用新型涉及元器件测试领域，具体是一种元器件测试装置中的探针组。

背景技术

电子元器件是元件和器件的总称。电子元件：指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品。如电阻器、电容器、电感器。因为它本身不产生电子，它对电压、电流无控制和变换作用，所以又称无源器件。电子器件：指在工厂生产加工时改变了分子结构的成品。例如晶体管、电子管、集成电路。因为它本身能产生电子，对电压、电流有控制、变换作用（放大、开关、整流、检波、振荡和调制等），所以又称有源器件。按分类标准，电子器件可分为12个大类，可归纳为真空电子器件和半导体器件两大块。

在电子元器件生产结束后，会对电子元器件进行检测，器件测量装置用于对元器件的参数进行测量，一般用于元器件测试分选机中。元器件测试分选机在对元器件进行测量后，会将符合要求的元器件放置在一处，将不符合要求的元器件放置在另一处，从而实现对元器件的分选。然而现有的测量器件中的探针组结构简单，对于不同类型的电子元件测量时，测量操作困难，难以满足对实际电子元件的测量需要，实用性差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种元器件测试装置中的探针组，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种元器件测试装置中的探针组，包括底座，所述底座上端两侧安装有支撑架，支撑架顶端安装有顶板，顶板中部安装有第一螺杆，第一螺杆上端安装有第一旋转板，所述第一螺杆下端安装有升降板，升降板下端通过螺栓连接有上探针座，所述底座上端中部安装有工作台，所述底座两端上部安装有限位架，限位架中部安装有第二螺杆，第二螺杆外侧安装有第二旋转板，第二螺杆内侧安装有下探针座，所述支撑架下端外侧安装有探针槽，探针槽电性连接有元器件插槽。

作为本实用新型进一步的方案：所述第一旋转板和第二旋转板上端均安装有旋转手柄。

作为本实用新型进一步的方案：所述升降板两端中部通过导向套连接有支撑架。

作为本实用新型进一步的方案：所述探针槽中设有与下探针座相互配合的探针孔。

作为本实用新型进一步的方案：所述上探针座下端均匀安装有上探针，下探针座内侧均匀安装有下探针。

作为本实用新型再进一步的方案：所述工作台上放置有待测量的电子元器件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

所述一种元器件测试装置中的探针组，结构合理，设计新颖，通过设有的上探针座和下探针座实现着对元器件的高效测量，同时通过设有的元器件插槽实现着与不同类型的元器件的对接，避免直接更换下探针座，操作简单，可靠性高。

附图说明

图1为一种元器件测试装置中的探针组的结构示意图。

图2为一种元器件测试装置中的探针组中探针槽的结构示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。