[实用新型]一种IC芯片测试治具

说明书

本实用新型提出一种IC芯片测试治具，包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。本实用性新提出的IC芯片测试治具，通过在治具的支脚上设置螺纹微调器，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，尤其是芯片测试治具。

背景技术

在对芯片样品进行失效分析时，由于芯片样品放置时与水平面存在一个夹角，导致在采集样品图片时会产生灰阶度不均匀以及部分图像模糊不清的情况。传统的方法是在芯片样品下方垫入一定量的胶质，以修正样品的内部夹角。

但在实际的操作过程中，垫入的胶质是不能直接定量的，由于精度低，往往需要重复操作加入胶质，不仅大量浪费了操作人员的时间，且在重复操作的过程中会产生额外的损坏以及污染样品的风险，直接影响到样品分析的精度以及效率。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提出一种IC芯片测试治具，便于调整芯片样品的角度与位置，操作简单高效，能有效地提高芯片样品分析的准确性。

本实用新型通过以下技术方案实现的：一种IC芯片测试治具，包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。

进一步的，所述支架还包括连接块，所述连接块设于所述支撑板与所述螺纹微调器之间，所述连接块用于辅助所述螺纹微调器对所述支撑板的位置进行调节。

进一步的，所述支脚具有三个，三个所述支脚之间间距相等。

进一步的，所述支撑板为长方形，所述支脚包括第一支脚、第二支脚和第三支脚，所述第一支脚与所述第二支脚分别设于所述支撑板较长的一边的边缘，所述第三支脚设于所述支撑板的另一较长边的中间。

进一步的，所述支撑板上设有安装孔，所述安装孔用于外部安装IC芯片样品。

本实用新型的有益效果：本实用性新提出一种IC芯片测试治具，通过在治具的支脚上设置螺纹微调器，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。

附图说明

图1为所述IC芯片测试治具的结构示意图；

图2为所述IC芯片测试治具的仰视图；

图3为所述IC芯片使用时的安装示意图。

具体实施方式

为了更加清楚、完整的说明本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

请参考图1～图3，本实用新型提出一种IC芯片测试治具1，包括支撑板11 和支架12，所述支撑板11安装在所述支架12上；所述支架12包括螺纹微调器和支脚122，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板11连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚122连接，所述支脚122与所述支撑板11垂直；所述螺纹微调器121包括旋钮1211，所述旋钮1211往第一方向转动时，所述支撑板11上升，所述旋钮1211往第二方向转动时，所述支撑板11下降，所述第二方向与所述第一方向相反。