[实用新型]一种激光粒度仪

说明书

本实用新型公开了一种激光粒度仪，解决了在加样过程中，样品沿着加样漏斗向下加入搅拌池的过程中部分会附着在加样漏斗的底部，而附着在漏斗底部的余样难以清除会对下一次的测样造成影响的问题，其技术方案要点是一种激光粒度仪，包括具有搅拌池的仪器本体、设置在仪器本体上与搅拌池连通的加样漏斗，所述加样漏斗具有供样品投入的进样口，所述仪器本体设置有清样杆，所述清样杆包括从进样口伸出的手握杆以及铰接在手握杆上的刮板，所述刮板与手握杆之间设置有迫使刮板向手握杆一侧发生弯折的扭簧，达到了能够将附着在加样装置底部的残留样品清除，避免对下一次样品的测量造成影响。

技术领域

本实用新型涉及激光仪器，特别涉及一种激光粒度仪。

背景技术

激光粒度测量法是基于激光整体光散射原理来测量颗粒尺寸的一种通用的粒径测量方法，理论上可以测量任何一种原料在另一相中的粒径结构。只要各相的折光指数不同，介质对于激光波长是透明的，就可使用激光散射测量。

如授权公告号为CN206192827U的中国实用新型提出了一种激光粒度仪，包括将待测样品投入搅拌池的加样装置、设置在搅拌池下方用于分散样品的搅拌池内的样品的分散池、接收分散池内分散后样品的样品池以及用于测试样品池内样品粒度的激光测试单元。

该激光粒度仪能够对样品粒度进行测量，但是由于在加样过程中，样品沿着加样漏斗向下加入搅拌池的过程中部分会附着在加样漏斗的底部，而附着在漏斗底部的余样难以清除会对下一次的测样造成影响。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种激光粒度仪，能够将附着在加样装置底部的残留样品清除，避免对下一次样品的测量造成影响。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种激光粒度仪，包括具有搅拌池的仪器本体、设置在仪器本体上与搅拌池连通的加样漏斗，所述加样漏斗具有供样品投入的进样口，所述仪器本体设置有清样杆，所述清样杆包括从进样口伸出的手握杆以及铰接在手握杆上的刮板，所述刮板与手握杆之间设置有迫使刮板向手握杆一侧发生弯折的扭簧。

通过采用上述技术方案，样品从进样口中进入搅拌池内，当样品粒度测量结束后，将清样杆拉直并伸入进样口后，刮板在扭簧的作用下发生向手握杆一侧发生弯折，被加样漏斗抵住之后停止弯折，随后旋转手握杆带动刮板沿着加样漏斗下端面进行周向的旋转，擦去附着在加样漏斗下端面上的残留样品，避免残留的样品对下一次的测量造成影响。

作为优选，所述刮板向手握杆方向弯折的端面上设置有除尘布。

通过采用上述技术方案，通过除尘布的设计，刮板弯折时除尘布与加样漏斗下端面抵接，能够增大将残留样品擦除的效果。

作为优选，所述手握杆外部滑移连接有迫使刮板和手握杆保持同轴线的拉直套。

通过采用上述技术方案，通过拉直套的设计，滑移拉直套使拉直套套设在手握杆和刮板的铰接处，可以避免扭簧带动刮板发生弯折，不需要一直用手阻止刮板的弯折，待清样杆伸入进样口后再向手握杆一侧滑动拉直套，刮板在扭簧的作用下发生弯折，能够操作更加简单省力。

作为优选，所述拉直套上设置有方向与手握杆轴线方向一致的摩擦纹路。

通过采用上述技术方案，摩擦纹路能够增大人手与拉直套之间的摩擦，能够更加方便的带动拉直套在手握杆上的滑移。

作为优选，所述手握杆上设置有避免拉直套脱出手握杆的环形挡板。

通过采用上述技术方案，通过环形挡板的设计，能够避免在滑移拉直套的过程中将拉直套误滑出手握杆。

作为优选，所述加样漏斗朝向搅拌池的端部为圆弧过渡。

通过采用上述技术方案，通过将加样漏斗的端部设置为圆弧过渡，刮尘板在擦拭完毕后能够更加顺畅地从进样口中取出。