[实用新型]一种电容器漏电流多通道独立测试系统

说明书

本实用新型涉及一种电容器漏电流多通道独立测试系统，主要由多个并联的电容充电测试单元、模拟开关切换单元、A/D转换单元以及CPU单元组成；所述电容充电测试单元通过模拟开关切换单元连接到A/D转换单元，所述A/D转换单元连接CPU。待测电容器分别与各电容充电测试单元连接，每个电容器拥有独立的充电测试单元，充电互不干扰，充电时间结束后依次测试电容器漏电流值，依次显示。本实用新型可以同时测试多个电容器产品，大大提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及电容器测试系统，尤其涉及一种电容器漏电流多通道独立测试系统。

背景技术

电容器，是电子设备中大量使用、不可缺少的电子元件之一，广泛应用于隔直、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换、控制电路等各个方面；电容器尤其是电解电容器，在使用之前衡量电容器的漏电流是不可缺少的步骤。

传统的电容器漏电流测试方法为：将电解电容器的正负极分别与漏电流测试仪的正负极相连接，设定充电时间为60秒(有些特殊规格产品充电时间为120秒，具体请参照该电容的规格书)然后启动仪器，充电时间完成后，仪器所显示的值即为该电容的漏电流。

传统测试方法的缺点在于：一次只能测试一个产品，效率低下，比如要测试10个产品，一个产品测试时间为60s，10个产品测试测试至少需要600s(还不包括客户更换产品的时间)，效率很低，为了提高效率，客户通常需要买多台仪器并用，成本很高，一般客户承受不起。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，提供一种检测速度快、效率高的电容器测试系统，本实用新型提供以下技术方案：

一种电容器漏电流多通道独立测试系统，由多个并联的电容充电测试单元、模拟开关切换单元、A/D转换单元、CPU单元以及信号输出单元组成；所述电容充电测试单元通过模拟开关切换单元连接到A/D转换单元，所述A/D转换单元连接CPU单元，所述CPU单元连接信号输出单元，待测电容器分别与各电容充电测试单元连接。

假如同时测试10个产品，一个产品测试时间为60s，10个产品的测试时间为同样也为60s(传统测试为600s),大大减少了测试时间，提高了测试效率。

进一步的，所述电容充电测试单元包括短路测试单元、开路测试单元、充电单元以及漏电流测试单元，所述短路测试单元、开路测试单元、充电单元、漏电流测试单元分别与待测电容器的正负极连接，并分别通过模拟开关切换单元、A/D转换单元与CPU单元连接。

采用上述方案进行多个产品同时测试时，是一个电源对很多电解电容器同时充电，如某一电容器短路，那么此电源充电的众多电解电容器可能都充不上电，那么测试时，很多合格品可能会认为次品，浪费很多；如电解电容器开路，其漏电流会非常小，不合格品可能会被认为良品，带来了质量隐患。因此，需要在充电前先进行一次电解电容器开路、短路测试，筛选出开路或者短路的电解电容器，避免产品浪费的同时，提高产品的质量。

进一步的，所述信号输出单元为HDL输出单元。

本实用新型的有益效果在于：可以同时测试多个电容器产品，大大提高了测试效率；并能在提高测试的准确性的同时避免产品的浪费。

附图说明

图1、同时测试10个待测电容器时，本实用新型的测试系统框图。

图2、本实用新型的电容充电测试单元的结构框图。

图3、图2中短路测试单元的电路图。

图4、图2中开路测试单元的电路图。

图5、图1中模拟开关切换单元的电路图。

具体实施方式