[实用新型]一种多光轴平行性校正仪有效
申请号: | 201721470630.0 | 申请日: | 2017-11-07 |
公开(公告)号: | CN207515716U | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 吴李宗;张德祥;王锦华;陈轩 | 申请(专利权)人: | 扬州莱达光电技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/27 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 黄冠华 |
地址: | 225000 江苏省扬*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 程控 校正装置 微调机构 光源 本实用新型 光轴平行性 光源切换 显示控制 校正仪 靶板 光轴测量装置 升降微调机构 平移 观察成像 光学平台 激光光源 可见指示 扩展装置 平行光管 外部设置 依次设置 大口径 激光靶 遮挡屏 铝合金 光轴 焦面 离轴 校正 | ||
本实用新型公开了一种多光轴平行性校正仪,包括校正装置和显示控制柜,所述校正装置和显示控制柜相连,所述校正装置包括从左至右依次设置在光学平台上的光轴扩展装置、靶板与光源切换台、观察成像及光轴测量装置和离轴大口径平行光管,所述校正装置外部设置有铝合金保护套,所述靶板与光源切换台包括程控转靶、程控光源、程控微调机构、1064激光光源、可见指示光源、激光靶和焦面遮挡屏,所述程控微调机构包括程控平移微调机构和程控升降微调机构,本实用新型结构简单且在校正过程中针对不同的系统不需要更换光源,校正精度较高。
技术领域
本实用新型涉及光学校正装置,特别涉及一种多光轴平行性校正仪。
背景技术
传统的光轴平行度检测方法是使用大口径离轴抛物面反射式平行式平行光管。为了检测多个光轴的平行度,平行光管的有效口径必须覆盖被测的光学系统。在检测光学瞄准跟踪系统的光轴平行度时,焦面上发出的平行光要同时在发射系统、接收系统和瞄准系统中成像。由于光学瞄准跟踪系统中有不可见激光测距系统、可见光瞄准系统和红外成像系统等,在使用大口径离轴抛物面反射式平行光管校正各光轴之间的平行性时,对于不同的系统需要更换光源,操作复杂且校正精度不高。
实用新型内容
为克服现有技术中存在的校正仪在校正过程中对于不同系统需要更换不同的光源,且校正精度不高的问题,本实用新型提供了一种多光轴平行性校正仪。
具体技术方案如下:
一种多光轴平行性校正仪,包括校正装置和显示控制柜,所述校正装置和显示控制柜相连,所述校正装置包括从左至右依次设置在光学平台上的光轴扩展装置、靶板与光源切换台、观察成像及光轴测量装置和离轴大口径平行光管,所述校正装置外部设置有铝合金保护套,所述靶板与光源切换台包括程控转靶、程控光源、程控微调机构、1064激光光源、可见指示光源、激光靶和焦面遮挡屏,所述程控微调机构包括程控平移微调机构和程控升降微调机构,所述程控转靶和程控光源固定连接且设置在程控微调机构上方,所述激光靶设置在程控光源的一侧,所述1064激光光源和可见指示激光光源设置在程控转靶的一侧,所述程控光源为红外、可见一体化光源,所述焦面遮挡屏与转靶相对设置,所述焦面遮挡屏设置有一个Φ30的透光孔,所述1064nm激光光源、可见指示光源前方设置有挡光板,所述挡光板与焦面遮挡屏的透光孔相对设置。
优选的,所述程控靶板包括小孔靶板、四杆靶、多孔靶和十字靶。
优选的,所述离轴大口径平行光管包括离轴抛物面反光镜和次反射镜,所述离轴抛物面反光镜的外形尺寸为Φ320mmX45mm(等厚),有效光学口径为Φ300mm,母抛物面焦距为2500mm±25mm,离轴量为350mm,面形误差为RMS≤0.05λ(λ=0.6328μm),PV≤0.25λ(λ=0.6328μm)。
优选的,所述观察成像与光轴测量装置设置在离轴抛物面反光镜的出射光路中,所述观察成像与光轴测量装置包括成像透镜和摄像CCD,所述成像透镜焦距为500mm,光学口径为Φ45mm,CCD的像素为500万。
优选的,所述光轴扩转装置包括斜方反射棱镜组和调整机构,所述调整机构包括X直线导轨、Y直线导轨和Z旋转导轨和锁紧机构,所述斜方反射棱镜组设置在调整机构上方,所述斜方反射棱镜组的入光口和出光口分别对准被测产品的出射光口和平行光管的入射光口。
本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果:
本实用新型中设置有靶板与光源切换台包括程控转靶、程控光源、程控微调机构、1064激光光源、可见指示光源、激光靶和焦前遮挡屏,所述程控微调机构包括程控平移微调机构和程控升降微调机构,本实用新型结构简单且在校正过程中针对不同的系统不需要更换光源,校正精度较高。
附图说明
图1为本实用新型一种多光轴平行性校正仪的主视图;
图2为本实用新型一种多光轴平行性校正仪的侧视图;
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